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電子能譜分析(EDS):基于掃描電子顯微鏡的能譜探測技術(shù),用于材料微區(qū)元素定性與半定量分析。檢測參數(shù):可測元素范圍Be-U(原子序數(shù)4-92),能量分辨率≤133eV(Mn Kα),空間分辨率≤10nm。
二次離子質(zhì)譜(SIMS):通過一次離子束濺射樣品表面,二次離子質(zhì)譜儀分析濺射離子的質(zhì)量與強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)表面及深度方向痕量元素分析。檢測參數(shù):表面檢測限≤10^12 atoms/cm2,深度分辨率≤1nm(多層結(jié)構(gòu)),質(zhì)量分辨率≥10000(m/Δm)。
俄歇電子能譜(AES):利用電子束激發(fā)樣品產(chǎn)生俄歇電子,通過能譜儀檢測俄歇電子能量分布,分析表面0.5-2nm深度的元素組成。檢測參數(shù):元素檢測范圍Li-U(原子序數(shù)3-92),空間分辨率≤5nm(場發(fā)射電子槍),能量分辨率≤0.5%。
電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS):樣品經(jīng)霧化進(jìn)入等離子體炬,離子化后通過質(zhì)譜儀進(jìn)行元素質(zhì)量分析,適用于痕量金屬元素定量檢測。檢測參數(shù):質(zhì)量數(shù)范圍1-260,檢出限≤1ppt(部分元素),同位素比精度≤0.1%。
原子吸收光譜(AAS):基于待測元素原子對特征譜線的吸收特性進(jìn)行定量分析,適用于金屬元素的常量及微量檢測。檢測參數(shù):波長范圍190-860nm,特征濃度≤0.01μg/mL/1%吸收,精密度RSD≤1.5%。
熒光X射線分析(XRF):利用初級X射線激發(fā)樣品發(fā)射特征熒光X射線,通過探測器測量能量與強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)元素定性與定量分析。檢測參數(shù):元素檢測范圍Na-U(原子序數(shù)11-92),檢測下限≤10ppm(輕元素),分析精度≤1%(含量>1%)。
中子活化分析(NAA):樣品經(jīng)中子輻照產(chǎn)生放射性同位素,通過測量其衰變γ射線能量與強(qiáng)度,進(jìn)行多元素定量分析。檢測參數(shù):可測元素范圍B-U(原子序數(shù)5-92),檢出限≤10^-12g(部分元素),相對誤差≤0.5%。
氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(GC-MS):樣品氣化后經(jīng)色譜柱分離,質(zhì)譜儀對組分進(jìn)行質(zhì)荷比分析,用于有機(jī)雜質(zhì)定性定量檢測。檢測參數(shù):質(zhì)量數(shù)范圍10-1000,溶劑延遲≤2min,檢測限≤1pg/μL(EI源)。
液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(LC-MS):樣品經(jīng)液相色譜分離,質(zhì)譜儀進(jìn)行組分分析,適用于極性或大分子有機(jī)雜質(zhì)檢測。檢測參數(shù):質(zhì)量數(shù)范圍50-3000,掃描速度≤10000u/s,檢測限≤0.1pg/μL(ESI源)。
熱重分析(TGA):在程序控溫下測量樣品質(zhì)量隨溫度變化,結(jié)合質(zhì)譜檢測逸出氣體,分析揮發(fā)性雜質(zhì)及分解產(chǎn)物。檢測參數(shù):溫度范圍室溫-1500℃,升溫速率0.1-20℃/min,質(zhì)量檢測限≤0.1μg。
金屬材料:包括不銹鋼、鋁合金、鈦合金等,用于結(jié)構(gòu)件、連接件制造,需控制合金成分及雜質(zhì)含量以確保機(jī)械性能。
半導(dǎo)體材料:涵蓋硅片、砷化鎵、氮化鎵等,應(yīng)用于集成電路、光電器件,要求嚴(yán)格控制痕量金屬雜質(zhì)及非金屬污染物。
高分子材料:如聚乙烯、聚酰亞胺、環(huán)氧樹脂等,用于塑料制品、電子封裝材料,需檢測添加劑殘留及有害元素。
陶瓷材料:包括氧化鋁、氧化鋯、碳化硅等,用于耐火材料、電子基板,需分析主成分純度及雜質(zhì)相含量。
鋰電池材料:正極材料(如三元材料、磷酸鐵鋰)、負(fù)極石墨、電解液等,需檢測金屬離子雜質(zhì)及水分含量以保障電池性能。
光伏材料:硅片、EVA膠膜、銀漿等,用于太陽能電池制造,需控制雜質(zhì)元素以避免光伏效率衰減。
催化劑材料:金屬氧化物(如氧化銅、二氧化鈦)、分子篩等,用于化工反應(yīng),需分析活性組分含量及雜質(zhì)影響。
生物醫(yī)用材料:鈦合金植入體、羥基磷灰石涂層、聚合物縫合線等,需檢測重金屬離子及毒性元素殘留。
電子封裝材料:環(huán)氧模塑料(EMC)、焊錫合金、底部填充膠等,需控制鹵素含量及金屬離子雜質(zhì)以確保封裝可靠性。
地質(zhì)礦物:鐵礦石、銅礦、稀土礦等,用于資源勘探與冶煉,需分析主元素含量及伴生有益/有害元素。
ASTM E1172-19:掃描電子顯微鏡和能譜儀的定量分析方法,規(guī)定微區(qū)成分分析的操作流程與數(shù)據(jù)處理要求。
ISO 17075:2014:電子探針顯微分析(EPMA)方法通則,涵蓋儀器校準(zhǔn)、定量分析及結(jié)果表示的技術(shù)規(guī)范。
GB/T 17359-2012:微束分析 能譜法定量分析,明確能譜儀定量分析的條件設(shè)定、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)選擇及誤差控制方法。
ASTM E1479-19:俄歇電子能譜法(AES)表面化學(xué)分析,規(guī)定表面成分定性與半定量分析的實(shí)驗(yàn)參數(shù)與數(shù)據(jù)解釋規(guī)則。
ISO 20571:2019:二次離子質(zhì)譜法(SIMS) 二次離子質(zhì)譜的定性分析,指導(dǎo)二次離子質(zhì)譜儀的定性分析操作與結(jié)果驗(yàn)證。
GB/T 33105-2016:電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定金屬材料中多元素含量,規(guī)定ICP-MS在金屬材料雜質(zhì)分析中的應(yīng)用方法。
ISO 9599:2010:原子吸收光譜法(AAS) 測定金屬中的雜質(zhì)元素,明確AAS在金屬雜質(zhì)檢測中的儀器條件與校準(zhǔn)程序。
ASTM D4285-17:氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法(GC-MS)測定有機(jī)材料中的揮發(fā)性有機(jī)物,規(guī)定GC-MS在有機(jī)雜質(zhì)分析中的操作步驟。
GB/T 24583-2009:液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法(LC-MS)測定藥物中的殘留溶劑,適用于高分子材料中有機(jī)溶劑的痕量檢測。
ISO 11358-2012:塑料 熱重分析(TGA) 第2部分:溫度指數(shù)和分解動力學(xué)的測定,規(guī)定TGA在塑料雜質(zhì)及分解產(chǎn)物分析中的應(yīng)用。
場發(fā)射掃描電子顯微鏡-能譜儀(FE-SEM-EDS):采用場發(fā)射電子槍產(chǎn)生高亮度電子束,結(jié)合能譜儀實(shí)現(xiàn)微區(qū)成分分析。功能:用于材料表面形貌觀察與微區(qū)元素定性與半定量分析,支持納米級空間分辨率的成分成像。
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS):利用脈沖一次離子束濺射樣品,二次離子通過飛行時(shí)間質(zhì)譜儀進(jìn)行質(zhì)量分析。功能:實(shí)現(xiàn)表面及深度方向的痕量元素分析,適用于有機(jī)/無機(jī)材料的表面污染物檢測與深度剖析。
俄歇電子能譜儀(AES):通過電子束激發(fā)樣品產(chǎn)生俄歇電子,由半球形分析器檢測電子能量分布。功能:分析材料表面0.5-2nm深度的元素組成,支持納米級表面成分的高分辨率成像。
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS):樣品經(jīng)霧化進(jìn)入氬等離子體炬,離子化后通過四極桿質(zhì)譜儀進(jìn)行質(zhì)量篩選與檢測。功能:測定樣品中痕量金屬元素及同位素含量,適用于金屬材料、半導(dǎo)體材料的高靈敏度雜質(zhì)分析。
X射線熒光光譜儀(XRF):利用高壓發(fā)生器激發(fā)X射線管產(chǎn)生初級X射線,激發(fā)樣品發(fā)射特征熒光X射線,由探測器測量能量與強(qiáng)度。功能:實(shí)現(xiàn)固體、粉末、液體樣品的元素定性與定量分析,支持快速篩查與半定量檢測。
氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS):樣品經(jīng)進(jìn)樣口汽化后由載氣帶入色譜柱分離,分離后的組分進(jìn)入質(zhì)譜儀進(jìn)行質(zhì)荷比分析。功能:分離并鑒定有機(jī)混合物中的各組分,用于高分子材料中添加劑殘留及有機(jī)雜質(zhì)的定性定量檢測。
液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(LC-MS):樣品由流動相輸送通過液相色譜柱分離,分離后的組分經(jīng)電離源離子化后進(jìn)入質(zhì)譜儀分析。功能:分離并檢測極性大分子或熱不穩(wěn)定有機(jī)化合物,適用于生物醫(yī)用材料中藥物殘留及高分子材料添加劑的分析。
熱重分析儀(TGA):樣品置于坩堝中,在程序控溫下由天平監(jiān)測質(zhì)量變化,結(jié)合質(zhì)譜儀檢測逸出氣體成分。功能:分析樣品的熱穩(wěn)定性、分解過程及揮發(fā)性雜質(zhì)含量,用于聚合物材料、鋰電池材料的雜質(zhì)分析。
銷售報(bào)告:出具正規(guī)第三方檢測報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量,讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。
研發(fā)使用:擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進(jìn)的測試設(shè)備,可降低了研發(fā)成本,節(jié)約時(shí)間。
司法服務(wù):協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品,進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn),為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。
大學(xué)論文:科研數(shù)據(jù)使用。
投標(biāo):檢測周期短,同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。
準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷:較短時(shí)間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點(diǎn),以達(dá)到盡快止損的目的。
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾:我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn),并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn),選擇適當(dāng)?shù)臋z測項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測試,或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作,我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力,并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí),我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn),以最大程度地滿足您的需求和市場要求。
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