檢測(cè)項(xiàng)目

橢偏儀厚度測(cè)量：基于光的偏振變化分析薄膜厚度；測(cè)量范圍0.5nm~100μm，精度0.2nm。

光學(xué)干涉法厚度檢測(cè)：利用干涉條紋評(píng)估層厚；分辨率0.1nm，適用于透明非晶硅層。

X射線反射法厚度測(cè)定：通過(guò)X射線反射率計(jì)算厚度；測(cè)量范圍1~1000nm，精度0.5nm。

紅外光譜法厚度分析：依據(jù)紅外吸收譜評(píng)估厚度；檢測(cè)范圍0.1~10μm，波長(zhǎng)分辨率4cm。

拉曼光譜法厚度檢測(cè)：利用光子散射測(cè)定薄膜；適用于納米級(jí)層，位移精度0.5cm。

原子力顯微鏡厚度掃描：探針掃描表面形貌；分辨率0.1nm，可測(cè)局部厚度變化。

掃描電子顯微鏡厚度觀測(cè)：電子束成像評(píng)估層厚；放大倍率1000x~100000x，分辨率1nm。

透射電子顯微鏡厚度分析：電子透射測(cè)量超薄層；適用于亞納米厚度，分辨率0.2nm。

超聲檢測(cè)法厚度測(cè)量：超聲波反射評(píng)估厚度；范圍1μm~10mm，精度1%。

電容法厚度檢測(cè)：基于電容變化測(cè)定厚度；適用于導(dǎo)電基底，測(cè)量精度0.5%。

檢測(cè)范圍

太陽(yáng)能電池：光伏模塊中的非晶硅吸收層。

半導(dǎo)體器件：集成電路薄膜晶體管層。

平板顯示器：液晶屏幕的TFT驅(qū)動(dòng)層。

光電傳感器：光電器件的非晶硅涂層。

薄膜晶體管：電子設(shè)備的開(kāi)關(guān)層。

光學(xué)涂層：鏡頭減反膜的非晶硅層。

納米結(jié)構(gòu)材料：納米線或量子點(diǎn)的涂層。

微機(jī)電系統(tǒng)：MEMS器件的絕緣薄膜。

科研樣品：實(shí)驗(yàn)室制備的非晶硅薄膜。

工業(yè)表面涂層：功能性表面的非晶硅層。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTME2244：光譜橢偏儀測(cè)量薄膜厚度。

ISO14707：輝光放電發(fā)射光譜法相關(guān)。

GB/T19588：納米薄膜厚度測(cè)量方法。

ISO4287：表面紋理幾何規(guī)范。

ASTMF1529：金屬薄膜厚度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T17434：通用薄膜厚度測(cè)量要求。

檢測(cè)儀器

光譜橢偏儀：測(cè)量光和物質(zhì)偏振相互作用；用于非晶硅層厚度的無(wú)損定量分析。

白光干涉儀：分析干涉條紋確定厚度；評(píng)估表面平整樣品的層厚。

X射線衍射儀：通過(guò)散射測(cè)量薄膜結(jié)構(gòu)；測(cè)定非晶硅層厚度和均勻性。

原子力顯微鏡：探針掃描表面形貌；提供局部厚度和粗糙度數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡：電子束成像觀察結(jié)構(gòu)；測(cè)量非晶硅層厚度和界面特性。

紅外光譜儀：分析吸收光譜計(jì)算厚度；適用于非破壞性薄膜評(píng)估。

拉曼光譜儀：測(cè)量光子散射評(píng)估厚度；檢測(cè)納米級(jí)非晶硅層特性。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷(xiāo)售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴(lài)自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門(mén)檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門(mén)提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類(lèi)型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。