檢測(cè)項(xiàng)目

光電導(dǎo)衰減壽命：測(cè)量材料在瞬態(tài)光激發(fā)后的電導(dǎo)率衰減過程，獲取體區(qū)少子壽命數(shù)據(jù)，具體檢測(cè)參數(shù)包括衰減時(shí)間常數(shù)、初始光生載流子濃度。

微波光電導(dǎo)衰減壽命：通過微波反射信號(hào)監(jiān)測(cè)載流子濃度瞬態(tài)變化，適用于高阻材料，具體檢測(cè)參數(shù)包含微波相位差、載流子濃度衰減曲線。

瞬態(tài)光電壓壽命：測(cè)量光激發(fā)產(chǎn)生的開路電壓衰減過程，反映載流子表面復(fù)合特性，具體檢測(cè)參數(shù)涉及電壓衰減時(shí)間常數(shù)、表面復(fù)合速率。

瞬態(tài)光致發(fā)光壽命：監(jiān)測(cè)光生載流子輻射復(fù)合的熒光強(qiáng)度衰減，直接獲取少數(shù)載流子壽命，具體檢測(cè)參數(shù)涵蓋發(fā)光衰減曲線、輻射復(fù)合效率。

開路電壓衰減壽命：分析太陽能電池等器件在光照停止后的電壓衰退動(dòng)力學(xué)，具體檢測(cè)參數(shù)包含電壓衰減率、準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)位移量。

短路電流衰減壽命：測(cè)量光電流瞬態(tài)響應(yīng)過程，評(píng)估載流子輸運(yùn)與收集效率，具體檢測(cè)參數(shù)涉及電流衰減時(shí)間常數(shù)、擴(kuò)散長(zhǎng)度推算值。

載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度：基于穩(wěn)態(tài)或瞬態(tài)方法推算載流子遷移距離，具體檢測(cè)參數(shù)包括表面光電壓相位差、掃描頻率響應(yīng)特性。

體復(fù)合壽命：分離體復(fù)合與表面復(fù)合貢獻(xiàn)，量化材料內(nèi)部缺陷密度，具體檢測(cè)參數(shù)涵蓋不同注入水平下的壽命值、俄歇系數(shù)。

表面復(fù)合速度：表征載流子在材料表面的損失速率，具體檢測(cè)參數(shù)包含鈍化前后壽命變化量、表面態(tài)密度推算值。

陷阱態(tài)密度分析：通過多指數(shù)衰減擬合識(shí)別深能級(jí)缺陷，具體檢測(cè)參數(shù)涉及陷阱能級(jí)位置、俘獲截面、密度分布譜。

溫度依存性測(cè)試：研究載流子壽命隨溫度的變化規(guī)律，具體檢測(cè)參數(shù)包括活化能、復(fù)合機(jī)制轉(zhuǎn)變點(diǎn)。

注入水平依存性：測(cè)量不同光強(qiáng)下的載流子壽命變化，具體檢測(cè)參數(shù)涵蓋小注入與大注入壽命、復(fù)合機(jī)制判定。

檢測(cè)范圍

單晶硅材料：直拉單晶硅、區(qū)熔單晶硅的體壽命與表面復(fù)合評(píng)估。

多晶硅材料：鑄錠多晶硅、帶狀硅的晶界復(fù)合效應(yīng)分析。

化合物半導(dǎo)體：砷化鎵、磷化銦等III-V族材料的輻射復(fù)合特性檢測(cè)。

硅基外延片：同質(zhì)/異質(zhì)外延層的缺陷密度與界面復(fù)合測(cè)試。

太陽能電池：晶體硅電池、薄膜電池的載流子收集效率診斷。

功率半導(dǎo)體：IGBT、晶閘管等器件的少子壽命控制水平驗(yàn)證。

探測(cè)器材料：HgCdTe、InSb等紅外探測(cè)材料的缺陷態(tài)表征。

納米結(jié)構(gòu)材料：量子點(diǎn)、納米線載流子動(dòng)力學(xué)過程研究。

有機(jī)半導(dǎo)體：OLED、OPV材料的激子擴(kuò)散長(zhǎng)度測(cè)量。

晶圓制造工藝：離子注入退火、表面鈍化工藝的優(yōu)化驗(yàn)證。

半導(dǎo)體襯底：藍(lán)寶石、碳化硅等寬禁帶襯底的缺陷檢測(cè)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

SEMIMF1535：采用微波光電導(dǎo)衰減法測(cè)量硅單晶少子壽命的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

ASTMF28：通過光電導(dǎo)衰減測(cè)定鍺和硅中載流子壽命的標(biāo)準(zhǔn)方法

IEC62969：光伏器件載流子壽命瞬態(tài)測(cè)試通用規(guī)范

GB/T1553：半導(dǎo)體單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定光電導(dǎo)衰減法

GB/T26068：硅片載流子復(fù)合壽命的非接觸測(cè)量方法

JISH0605：硅晶體中載流子壽命測(cè)量方法

DIN50441：半導(dǎo)體材料載流子壽命測(cè)試導(dǎo)則

檢測(cè)儀器

光電導(dǎo)衰減測(cè)試儀：利用脈沖激光激發(fā)樣品并監(jiān)測(cè)電導(dǎo)率瞬態(tài)變化，功能包括少子壽命測(cè)量、衰減曲線擬合分析。

微波光電導(dǎo)衰減系統(tǒng)：通過非接觸式微波探頭探測(cè)載流子濃度變化，功能涵蓋高阻材料壽命測(cè)試、表面復(fù)合速度計(jì)算。

瞬態(tài)光致發(fā)光光譜儀：采集納秒級(jí)時(shí)間分辨熒光信號(hào)，功能包含輻射復(fù)合壽命測(cè)量、多指數(shù)衰減分解。

開路電壓衰減記錄裝置：同步控制光源開關(guān)并記錄電壓衰減波形，功能涉及器件級(jí)載流子壽命評(píng)估、復(fù)合機(jī)制識(shí)別。

表面光電壓測(cè)試儀：基于調(diào)制光束誘導(dǎo)電壓相位分析，功能包括擴(kuò)散長(zhǎng)度測(cè)量、表面態(tài)密度推算。

低溫變溫測(cè)試平臺(tái)：集成溫控模塊的壽命測(cè)試系統(tǒng)，功能涵蓋-196C至300C溫區(qū)壽命測(cè)量、復(fù)合機(jī)理研究。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。