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涂層晶粒尺寸測定

2023-08-10 15:14:56
涂層晶粒尺寸
摘要:中析研究所涂層晶粒尺寸測定標準:GB/T 31568-2015等。中析支持金屬制品、橡塑制品、納米材料、陶瓷等各種樣品的涂層晶粒尺寸測定服務(wù)。檢測周期:常規(guī)到樣后7-15個工作日出具試驗報告。涂層晶粒尺寸測定費用:樣品初檢后結(jié)合客戶檢測需求以及實驗復(fù)雜程度進行報價,樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測項目來決定,詳情您可以咨詢工程師。


因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。

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