檢測(cè)項(xiàng)目

算術(shù)平均偏差（Ra）：指在取樣長度內(nèi)，輪廓偏距絕對(duì)值的算術(shù)平均值，是最常用的表面粗糙度參數(shù)。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.025~100μm，分辨率0.001μm，相對(duì)誤差≤5%。

均方根偏差（Rq）：在取樣長度內(nèi)，輪廓偏距平方的算術(shù)平均值的平方根，反映表面粗糙度的統(tǒng)計(jì)分散性。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.025~100μm，重復(fù)精度≤3%，示值誤差±2μm。

最大輪廓峰高（Rp）：在取樣長度內(nèi)，輪廓峰頂線與基準(zhǔn)線之間的最大距離。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.05~200μm，分辨率0.01μm，適用于硬材料表面。

最大輪廓谷深（Rv）：在取樣長度內(nèi)，輪廓谷底線與基準(zhǔn)線之間的最大距離。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.05~200μm，測(cè)量速度0.1~5mm/s，支持連續(xù)掃描。

輪廓最大高度（Rz）：在取樣長度內(nèi)，最大輪廓峰高與最大輪廓谷深之差。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.1~400μm，分辨率0.01μm，符合ISO4287標(biāo)準(zhǔn)。

總輪廓高度（Rt）：在評(píng)定長度內(nèi)，最大輪廓峰高與最大輪廓谷深之差。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.1~400μm，相對(duì)誤差≤10%，適用于大型零件。

輪廓單元平均間距（Sm）：在取樣長度內(nèi)，輪廓單元的平均間距，反映表面紋理的間距特征。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.01~10mm，分辨率0.001mm，相對(duì)誤差≤10%。

單峰間距（S）：相鄰兩個(gè)輪廓峰之間的水平距離，用于分析表面紋理的周期性。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍0.005~5mm，分辨率0.001mm，支持直方圖統(tǒng)計(jì)。

輪廓偏斜度（Rsk）：輪廓分布的不對(duì)稱性指標(biāo)，反映表面峰谷的偏斜程度（峰多于谷時(shí)為正，谷多于峰時(shí)為負(fù)）。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍-2~+2，精度±0.05，適用于磨損表面分析。

輪廓峰度（Rku）：輪廓分布的尖銳程度指標(biāo)，反映表面峰的陡峭程度（Rku>3為尖峰，Rku<3為平峰）。檢測(cè)參數(shù)：測(cè)量范圍1~10，精度±0.1，用于評(píng)估表面接觸性能。

檢測(cè)范圍

機(jī)械制造零件：軸類零件、齒輪齒面、軸承內(nèi)外圈、機(jī)床導(dǎo)軌等，用于評(píng)估運(yùn)動(dòng)副的摩擦性能和配合精度。

精密模具：注塑模腔、沖壓模刃口、壓鑄模型芯、擠出模頭的表面等，影響塑件表面質(zhì)量和模具使用壽命。

汽車零部件：發(fā)動(dòng)機(jī)活塞、氣缸套、制動(dòng)盤、變速箱齒輪表面等，關(guān)系到發(fā)動(dòng)機(jī)效率、制動(dòng)系統(tǒng)可靠性及燃油經(jīng)濟(jì)性。

航空航天部件：飛機(jī)渦輪葉片、起落架構(gòu)件、衛(wèi)星天線反射面、火箭燃料箱內(nèi)壁等，保障高可靠性和氣動(dòng)性能。

電子元件：半導(dǎo)體芯片封裝基板、印刷電路板（PCB）銅箔表面、電子連接器觸點(diǎn)等，影響焊接質(zhì)量和信號(hào)傳輸穩(wěn)定性。

醫(yī)療器械：手術(shù)刀片、植入式假體（如髖關(guān)節(jié)、心臟支架）表面、輸液管接口、注射器針頭等，確保生物相容性和使用安全性。

光學(xué)元件：鏡頭表面、棱鏡鏡面、激光諧振腔、光纖端面等，影響光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量、透光率及激光傳輸效率。

金屬加工材料：冷軋鋼板、熱軋鋼帶、不銹鋼薄板、鋁型材表面等，評(píng)估材料的表面加工質(zhì)量和后續(xù)涂裝、電鍍處理性能。

塑料成型產(chǎn)品：家電外殼（如冰箱、空調(diào)）、手機(jī)外殼、飲料瓶包裝、玩具塑料部件等，影響產(chǎn)品的外觀質(zhì)感和消費(fèi)者體驗(yàn)。

紡織機(jī)械部件：紗錠表面、織機(jī)鋼筘、印染輥筒、紡織針表面等，防止纖維纏繞和提高織物的織造質(zhì)量（如布面平整度）。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ISO4287:2010幾何產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范（GPS）-表面結(jié)構(gòu)-輪廓法-術(shù)語、定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)。

GB/T3505-2009幾何產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范（GPS）-表面結(jié)構(gòu)-輪廓法-術(shù)語、定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)。

ASTMB46.1-2019金屬表面粗糙度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法（輪廓法）。

JISB0601-2013表面粗糙度的定義及表示方法。

ISO3274:1996表面粗糙度測(cè)量-觸針式儀器的校準(zhǔn)方法。

GB/T1031-2009表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值。

ASTMD7127-2017塑料表面粗糙度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法（非接觸式光學(xué)profilometry）。

ISO13565-1:1996幾何產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范（GPS）-表面結(jié)構(gòu)-輪廓法-具有復(fù)合加工特征的表面-第1部分：術(shù)語和參數(shù)。

GB/T17260-2009輪廓法測(cè)量表面粗糙度的儀器校準(zhǔn)方法。

ASTME1820-2021表面粗糙度測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)指南（輪廓法）。

檢測(cè)儀器

觸針式表面粗糙度儀：通過金剛石觸針（針尖半徑2~10μm）掃描表面輪廓，將機(jī)械位移轉(zhuǎn)換為電信號(hào)（壓電傳感器或電感傳感器）。功能：測(cè)量Ra、Rz、Rt、Rp、Rv等輪廓參數(shù)，適用于金屬、塑料、陶瓷等硬材料表面，測(cè)量范圍0.025~100μm，分辨率0.001μm。

光學(xué)干涉式表面粗糙度儀：利用光的干涉原理（如邁克爾遜干涉、斐索干涉）獲取表面輪廓信息，非接觸式測(cè)量（無表面損傷）。功能：測(cè)量高精度表面（如光學(xué)元件、半導(dǎo)體芯片）的Ra、Rq、Rz等參數(shù)，分辨率可達(dá)納米級(jí)（0.1nm），適用于軟材料或易損傷表面。

激光共聚焦顯微鏡：通過激光（波長405nm或633nm）聚焦掃描表面，利用共聚焦原理排除非焦點(diǎn)信號(hào)，生成高分辨率三維輪廓圖像（像素分辨率可達(dá)0.1μm）。功能：同時(shí)測(cè)量二維輪廓參數(shù)（如Ra、Rz）和三維紋理參數(shù)（如Sa、Sz、Sq），適用于復(fù)雜曲面（如透鏡、齒輪齒面）和微結(jié)構(gòu)表面（如MEMS器件）。

原子力顯微鏡（AFM）：通過微懸臂梁探針（針尖半徑5~20nm）與表面原子間的范德華力或靜電力檢測(cè)輪廓，分辨率可達(dá)原子級(jí)（0.01nm）。功能：測(cè)量超精密表面（如半導(dǎo)體芯片、石墨烯薄膜）的Ra、Rq、Rz等參數(shù)，適用于納米級(jí)表面分析（如表面缺陷、薄膜厚度），支持輕敲模式、接觸模式、非接觸模式。

輪廓儀（Profiler）：采用機(jī)械（觸針）或光學(xué)（激光）方式掃描表面，記錄輪廓數(shù)據(jù)（采樣頻率可達(dá)1MHz）并通過軟件計(jì)算參數(shù)。功能：測(cè)量大型零件（如機(jī)床導(dǎo)軌、橋梁構(gòu)件、飛機(jī)機(jī)翼蒙皮）的表面粗糙度，支持長行程掃描（可達(dá)數(shù)米），適用于工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)或大型工件檢測(cè)。

掃描電子顯微鏡（SEM）：通過電子束（加速電壓0.5~30kV）掃描表面，生成高倍率圖像（可達(dá)100萬倍），結(jié)合能譜分析（EDS）輔助評(píng)估表面成分。功能：觀察表面微觀形貌（如晶粒結(jié)構(gòu)、裂紋、涂層厚度），間接評(píng)估粗糙度（如通過形貌特征判斷Ra值），適用于復(fù)雜形貌表面（如多孔材料、粉末冶金零件、涂層表面）。

白光干涉儀：利用白光的低相干性干涉原理，獲取表面輪廓的高度信息，非接觸式測(cè)量。功能：測(cè)量大視場(chǎng)表面（如半導(dǎo)體晶圓、液晶面板）的Ra、Rz等參數(shù)，分辨率可達(dá)0.1nm，適用于平整表面的快速檢測(cè)（掃描速度可達(dá)10mm/s）。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。