檢測(cè)項(xiàng)目

算術(shù)平均粗糙度：量化表面輪廓的平均高度偏差。參數(shù)：Ra值范圍0.01-100μm，分辨率0.001μm。

均方根粗糙度：基于方差計(jì)算的平均輪廓偏差。參數(shù)：Rq值精度5%，測(cè)量帶寬50-500μm。

最大高度粗糙度：評(píng)估最高峰與最低谷的垂直距離。參數(shù)：Rz值范圍0.1-200μm，誤差限2μm。

面積平均高度：三維表面點(diǎn)陣的平均高度計(jì)算。參數(shù)：Sa值采樣密度1000點(diǎn)/mm，數(shù)據(jù)點(diǎn)間距1μm。

最大高度差：三維表面峰谷最大垂直距離。參數(shù)：Sz值測(cè)量面積0.1-10mm，重復(fù)性0.05μm。

輪廓間距：峰與峰之間的平均橫向距離。參數(shù)：Sm值范圍1-1000μm，濾波截止波長(zhǎng)0.8mm。

表面發(fā)展率：實(shí)際表面積與投影面積之比。參數(shù)：Sdr值百分比輸出，精度0.5%，測(cè)量面積5mm5mm。

總高度：評(píng)估輪廓最大峰高和最小谷深之和。參數(shù)：St值范圍0.05-150μm，適用粗糙度級(jí)別N1-N12。

輪廓偏斜度：量化表面分布對(duì)稱性。參數(shù)：Rsk值無量綱系數(shù)范圍-3至+3，采樣長(zhǎng)度0.8mm。

輪廓峭度：衡量輪廓峰銳度和平坦度。參數(shù)：Rku值無量綱系數(shù)范圍0-10，測(cè)量帶寬250μm。

平均波長(zhǎng)：評(píng)估表面周期性紋理特征。參數(shù)：λa值范圍0.1-1000μm，濾波設(shè)置高斯型。

核心峰高度：計(jì)算輪廓最高10%峰的平均高度。參數(shù)：Rpk值范圍0.01-50μm，數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)10000點(diǎn)。

檢測(cè)范圍

金屬加工件：車削、銑削或磨削表面紋理評(píng)估。

光學(xué)元件：透鏡、反射鏡和棱鏡的拋光平整度分析。

半導(dǎo)體晶圓：集成電路芯片表面微結(jié)構(gòu)測(cè)量。

陶瓷材料：工程陶瓷燒結(jié)表面的微觀粗糙度檢測(cè)。

塑料注塑件：模具成型表面的紋理均勻性評(píng)估。

汽車零部件：發(fā)動(dòng)機(jī)活塞或氣缸壁的磨損量量化。

醫(yī)療器械：植入物或手術(shù)工具的滅菌表面檢查。

航空航天組件：渦輪葉片涂層或機(jī)身面板的粗糙度控制。

電子元件：印刷電路板或連接器觸點(diǎn)的表面特征分析。

納米涂層：薄膜沉積層的厚度一致性測(cè)量。

建筑材料：混凝土或金屬結(jié)構(gòu)件的腐蝕表面評(píng)估。

紡織品涂層：功能性纖維表面的微紋理特征檢測(cè)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ISO25178-2:2012：三維表面紋理參數(shù)定義和計(jì)算規(guī)范。

ASMEB46.1-2019：表面紋理測(cè)量術(shù)語(yǔ)和評(píng)定方法。

GB/T3505-2009：表面粗糙度參數(shù)術(shù)語(yǔ)標(biāo)準(zhǔn)。

DIN4768:1990：德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量基礎(chǔ)規(guī)范。

JISB0601:2013：日本工業(yè)表面粗糙度表示方法。

ASTME2387-05：干涉顯微鏡法表面測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程。

GB/T1031-2009：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范粗糙度參數(shù)。

ISO13565-2:1996：濾波輪廓參數(shù)的評(píng)定和應(yīng)用。

ENISO4287:1998：歐洲標(biāo)準(zhǔn)表面輪廓術(shù)語(yǔ)定義。

GB/T10610-2009：表面粗糙度測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)規(guī)范。

檢測(cè)儀器

白光干涉儀：利用相干光束干涉原理生成表面干涉圖。功能：精確測(cè)量表面高度差并輸出三維輪廓圖。

激光掃描顯微鏡：通過激光束掃描表面獲取點(diǎn)云數(shù)據(jù)。功能：實(shí)現(xiàn)高分辨率垂直測(cè)量和實(shí)時(shí)表面重建。

共聚焦顯微鏡：使用光學(xué)針孔過濾提升深度分辨率。功能：執(zhí)行亞微米級(jí)表面掃描和剖面分析。

光學(xué)輪廓儀：采用非接觸式光學(xué)成像技術(shù)捕獲表面形貌。功能：量化粗糙度參數(shù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)可視化處理。

相位偏移干涉儀：基于相位變化原理計(jì)算高度信息。功能：提供納米級(jí)精度的高度測(cè)量和誤差校正。

數(shù)字全息顯微鏡：記錄光波全息圖重建表面結(jié)構(gòu)。功能：實(shí)現(xiàn)大面積快速掃描和動(dòng)態(tài)表面監(jiān)測(cè)。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。