檢測(cè)項(xiàng)目

主成分分析：精確測(cè)定三氧化二銻（Sb?O?）含量及金屬銻品位

伴生元素檢測(cè)：砷、汞、鉛等重金屬元素的定量分析

物相鑒定：輝銻礦（Sb?S?）、方銻礦（Sb?O?）等礦物形態(tài)鑒別

有害物質(zhì)篩查：放射性元素（鈾、釷）及氰化物殘留檢測(cè)

物理性能測(cè)試：礦石密度、硬度、解離度等參數(shù)測(cè)定

檢測(cè)范圍

礦石類型：硫化銻礦、氧化銻礦及混合型銻礦石樣本

加工階段：原礦粗選樣、精礦濃縮樣、尾礦廢棄樣全流程覆蓋

產(chǎn)品形態(tài)：塊狀礦石、粉末樣品（80-200目）、冶煉中間產(chǎn)物

環(huán)境樣本：礦區(qū)土壤、水體中銻元素遷移形態(tài)監(jiān)測(cè)

工業(yè)制品：阻燃劑、合金材料等含銻制品的成分驗(yàn)證

檢測(cè)方法

化學(xué)分析法

碘量法：基于氧化還原反應(yīng)測(cè)定總銻含量（GB/T 3257.22）

氫化物發(fā)生-原子熒光光譜法（HG-AFS）：痕量元素超限值檢測(cè)

儀器分析法

電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：多元素同步定量（檢出限0.01μg/g）

X射線熒光光譜法（XRF）：快速無(wú)損的現(xiàn)場(chǎng)篩查技術(shù)

電子探針顯微分析（EPMA）：微區(qū)成分與礦物賦存狀態(tài)研究

物理表征法

X射線衍射（XRD）：礦物晶體結(jié)構(gòu)解析

掃描電鏡-能譜聯(lián)用（SEM-EDS）：微觀形貌與元素分布成像

檢測(cè)儀器

元素分析系統(tǒng)

全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）：波長(zhǎng)范圍165-900nm

石墨爐原子吸收光譜儀（GFAAS）：ppb級(jí)重金屬檢測(cè)能力

結(jié)構(gòu)表征設(shè)備

多功能X射線衍射儀：θ-θ測(cè)角儀系統(tǒng)（精度±0.0001°）

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡：分辨率達(dá)1nm@15kV

輔助裝置組

微波消解系統(tǒng)：40位高通量樣品前處理工作站

激光粒度分析儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm

高溫電阻爐：最高工作溫度1700℃的灼燒減量裝置

質(zhì)量控制設(shè)備

標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)儲(chǔ)存柜：恒溫恒濕環(huán)境維持CRM穩(wěn)定性

十萬(wàn)分之一分析天平：符合ISO/IEC17025計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。