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聚焦離子束分析

2025-05-20 09:45:23
聚焦離子束分析測試機(jī)構(gòu),聚焦離子束分析測試方法,聚焦離子束分析測試儀器
摘要:聚焦離子束(FIB)分析是一種基于高能離子束與材料相互作用的精密檢測技術(shù),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)及納米技術(shù)領(lǐng)域。其核心在于通過離子束刻蝕與成像實(shí)現(xiàn)微納尺度結(jié)構(gòu)加工與成分分析,關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)包括束流穩(wěn)定性、空間分辨率及元素探測靈敏度。檢測需嚴(yán)格遵循樣品預(yù)處理規(guī)范與真空環(huán)境要求。

因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。

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