檢測項目

相位對比度分析：測量電子波相位變化以可視化材料內(nèi)部結構，參數(shù)包括相位靈敏度0.1 rad和動態(tài)范圍±π rad。

空間分辨率測試：評估成像系統(tǒng)的最小可分辨距離，參數(shù)為分辨率限值0.1 nm和校準誤差±0.02 nm。

樣品厚度測量：通過全息條紋分析計算樣品厚度，參數(shù)為厚度精度±1 nm和測量范圍5-500 nm。

電場分布映射：分析樣品內(nèi)部電場強度與方向，參數(shù)為電場測量范圍0.1-100 kV/cm和空間分辨率2 nm。

磁疇結構成像：可視化磁性材料的磁疇邊界與分布，參數(shù)為磁場靈敏度10 mT和成像速度10 frames/s。

晶體缺陷分析：識別位錯、堆垛故障和空位等缺陷，參數(shù)為缺陷檢測尺寸下限2 nm和對比度閾值0.05。

成分分布分析：通過相位信息推斷元素濃度分布，參數(shù)為成分分辨率5 at%和能譜集成時間60 s。

應變場測量：量化晶格應變和應力分布，參數(shù)為應變精度0.1%和測量區(qū)域100 μm2。

電子光學像差校正：評估和校正透鏡像差以優(yōu)化成像質量，參數(shù)為像差系數(shù)校準誤差<1%和校正頻率1 Hz。

環(huán)境穩(wěn)定性監(jiān)測：控制溫度和氣 pressure波動對測量的影響，參數(shù)為溫度穩(wěn)定性±0.1°C和真空度維持10?? Pa。

檢測范圍

半導體器件：分析晶體管、二極管和集成電路的晶體結構與缺陷分布。

納米材料：表征碳納米管、石墨烯和量子點的尺寸、形狀與界面特性。

磁性材料：研究永磁體、軟磁材料的磁疇動態(tài)和交換耦合效應。

生物樣品：對蛋白質晶體、細胞切片進行非破壞性相位對比成像。

陶瓷材料：評估氧化鋯、氮化硅等陶瓷的晶界、相分布和孔隙率。

金屬合金：分析鋁合金、鈦合金的析出相、界面和腐蝕行為。

聚合物復合材料：研究填充劑分布、界面結合和降解機制。

超導材料：可視化高溫超導體的渦旋 lattice和缺陷結構。

光伏材料：分析硅基和鈣鈦礦太陽能電池的pn結和界面特性。

考古樣品：對古代金屬、陶瓷進行非破壞性內(nèi)部結構分析。

檢測標準

ISO 16700:2016 微束分析-掃描電子顯微鏡-校準指南。

ASTM E766-98 標準實踐 for SEM magnification calibration。

GB/T 27788-2011 微束分析標準術語。

ISO 25498:2018 微束分析-電子探針微量分析-定量分析指南。

ASTM E1504-11 標準指南 for SEM of biological samples。

GB/T 18907-2013 電子顯微鏡分析方法通則。

ISO 10934:2000 光學和光子學-顯微鏡-術語。

ASTM E2015-04 標準指南 for electron beam testing。

GB/T 30067-2013 納米材料表征技術規(guī)范。

ISO 19214:2017 微束分析-透射電子顯微鏡-校準 of image magnification。

檢測儀器

透射電子顯微鏡：提供高能電子束用于成像和全息圖采集，功能包括電子光學放大和樣品導航。

電子雙棱鏡：引入?yún)⒖茧娮硬▽崿F(xiàn)干涉效應，功能為相位調(diào)制和波前分割。

電荷耦合器件相機：記錄全息圖的強度分布，參數(shù)為像素尺寸10 μm和幀率30 fps。

圖像處理軟件：執(zhí)行傅里葉變換和相位解包裹以重建相位信息，功能包括噪聲濾波和數(shù)據(jù)可視化。

環(huán)境控制室：維持穩(wěn)定溫度和氣 pressure條件，功能為減少熱漂移和振動干擾。

樣品制備工具：如離子銑削儀用于制備電子透明薄樣品，功能包括精確厚度控制和表面清潔。

相位板：調(diào)制電子波相位以增強對比度，功能為引入已知相位偏移。

能譜儀：進行元素成分分析并與全息數(shù)據(jù)關聯(lián)，功能為X射線能譜采集和定量處理。

高穩(wěn)定性電源：供應電子槍和透鏡系統(tǒng)，參數(shù)為電壓波動<0.01%和電流精度1 pA。

真空系統(tǒng)：維持高真空環(huán)境防止樣品污染，功能為壓力控制低于10?? Pa和泄漏率檢測。

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務：協(xié)助相關部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關部門提供科學、公正、準確的檢測數(shù)據(jù)。

大學論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學技術研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標準，選擇適當?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術。同時，我們將積極跟進新的技術和標準，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。