檢測(cè)項(xiàng)目

屏蔽效能（SE）、表面電阻率、體積電阻率、介電常數(shù)、介質(zhì)損耗角正切值、磁導(dǎo)率、電磁反射率、電磁吸收率、阻抗匹配特性、頻率響應(yīng)特性、溫度穩(wěn)定性、濕熱穩(wěn)定性、耐腐蝕性、拉伸強(qiáng)度保持率、彎曲疲勞性能、透光率、霧度值、厚度均勻性、面密度偏差率、鍍層結(jié)合力、納米粒子分散度、導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)連續(xù)性缺陷率、各向異性系數(shù)、趨膚深度參數(shù)、駐波比（VSWR）、插入損耗（IL）、回波損耗（RL）、功率耗散系數(shù)、電磁脈沖響應(yīng)時(shí)間、多頻段兼容性

檢測(cè)范圍

金屬濺射鍍層薄膜（銅/鋁/鎳基）、化學(xué)沉積銀膜、石墨烯復(fù)合導(dǎo)電膜、碳納米管增強(qiáng)膜層、MXene基柔性屏蔽膜、導(dǎo)電高分子復(fù)合膜（PEDOT:PSS/PPy/PANI）、金屬網(wǎng)格透明導(dǎo)電膜（銅網(wǎng)/銀網(wǎng)）、磁性顆粒摻雜聚合物膜（Fe3O4/FeSiAl）、多層結(jié)構(gòu)屏蔽膜（金屬-介質(zhì)交替層）、電磁吸波復(fù)合膜（鐵氧體/碳基）、納米銀線透明導(dǎo)電膜、離子液體改性屏蔽膜、電磁密封襯墊材料、防輻射窗簾布基材膜層、5G設(shè)備屏蔽窗貼膜、醫(yī)療設(shè)備EMI防護(hù)膜層、航空航天用輕量化屏蔽膜、汽車(chē)電子抗干擾貼膜、可穿戴設(shè)備柔性屏蔽膜層、PCB板表面防護(hù)涂層、鋰電隔膜功能改性層、光伏組件抗PID涂層、建筑玻璃隔熱電磁屏蔽膜、軍用偽裝網(wǎng)功能涂層、核磁共振室屏蔽窗貼膜、高頻連接器界面處理層、衛(wèi)星通訊天線罩功能涂層、工業(yè)機(jī)器人抗干擾防護(hù)膜層

檢測(cè)方法

1.波導(dǎo)法（ASTMD4935）：采用矩形波導(dǎo)系統(tǒng)在30MHz-1.5GHz頻段測(cè)量平面材料的SE值2.同軸法蘭法（IEEE-STD-299）：利用嵌套式同軸夾具在1-18GHz范圍測(cè)試材料的傳輸/反射特性3.四探針?lè)ǎ℅B/T1410）：通過(guò)線性排列探針測(cè)量表面電阻率4.諧振腔法（IEC61189-3）：基于微波諧振原理測(cè)定材料的復(fù)介電常數(shù)與磁導(dǎo)率5.時(shí)域譜分析法（MIL-STD-461F）：采用瞬態(tài)脈沖信號(hào)評(píng)估材料的寬帶響應(yīng)特性6.拱形架法（GB/T30142）：構(gòu)建半電波暗室環(huán)境測(cè)試大尺寸樣品的整體屏蔽效能7.微帶線法（IPC-TM-650）：利用印制電路板結(jié)構(gòu)評(píng)估高頻段（>10GHz）的插入損耗8.渦流法（ISO2360）：通過(guò)交變磁場(chǎng)測(cè)量非磁性導(dǎo)電膜的厚度與電導(dǎo)率9.掃描電子顯微鏡（SEM）：分析鍍層微觀形貌與缺陷分布10.X射線光電子能譜（XPS）：表征表面元素組成與化學(xué)狀態(tài)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T30142-2013平面材料電磁屏蔽效能的測(cè)量方法ASTMD4935-18StandardTestMethodforMeasuringtheElectromagneticShieldingEffectivenessofPlanarMaterialsIEC62333-3:2016Electromagneticshieldingmaterials-Part3:MeasurementmethodsMIL-STD-285-1956AttenuationMeasurementsforEnclosures,ElectromagneticShielding,forElectronicTestPurposesEN50147-1:2017Anechoicchambers-Part1:ShieldattenuationmeasurementIEEEStd299.1-2013RecommendedPracticeforTestingtheShieldingEffectivenessofElectromagneticShieldingEnclosuresJISC2105:2016電磁シールド材料の遮蔽効果測(cè)定方法GB/T17626.21-2014電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法ISO1853:2018Conductiveanddissipativerubbers,vulcanizedorthermoplastic-MeasurementofresistivityIPC-TM-650TestMethodsManualMethod2.5.5.7CSurfaceResistanceandResistivity

檢測(cè)儀器

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（KeysightN5227B）：用于0.01-67GHz頻段的S參數(shù)精確測(cè)量波導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)（ETS-Lindgren3106B）：符合ASTMD4935標(biāo)準(zhǔn)的SE測(cè)試平臺(tái)四探針測(cè)試儀（LucasLabsPro4-4400）：表面電阻率測(cè)量精度達(dá)0.5%開(kāi)放式同軸夾具（Huber+SuhnerSucoflex100）：支持DC-18GHz寬頻段介電特性測(cè)試掃描微波阻抗顯微鏡（KeysightAFM-RS1500）：實(shí)現(xiàn)納米級(jí)空間分辨率的電磁參數(shù)成像多頻段混響室（BluetestRTS60）：滿足EN61000-4-21標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)計(jì)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境時(shí)域頻譜分析儀（TektronixRSA7100B）：捕獲瞬態(tài)電磁脈沖響應(yīng)特性高溫高濕試驗(yàn)箱（EspecPL-3KPH）：提供85℃/85%RH環(huán)境下的穩(wěn)定性測(cè)試條件激光共聚焦顯微鏡（OlympusLEXTOLS5000）：三維形貌重構(gòu)分析表面粗糙度影響X射線熒光測(cè)厚儀（FischerXDV-SDD）：非破壞性測(cè)量多層鍍膜的厚度與成分

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷(xiāo)售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶(hù)更加信賴(lài)自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門(mén)檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門(mén)提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類(lèi)型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。