檢測項目

應(yīng)力雙折射檢測主要包含以下核心項目：

• 材料內(nèi)部殘余應(yīng)力分布定量分析
• 雙折射率（Birefringence）絕對值測量
• 主應(yīng)力方向角測定
• 各向異性空間分布表征
• 溫度/濕度變化下的應(yīng)力穩(wěn)定性測試
• 加工工藝對應(yīng)力分布的影響評估

檢測范圍

本檢測適用于以下材料及制品：

• 光學(xué)玻璃：包括冕牌玻璃、火石玻璃等光學(xué)透鏡基材
• 高分子材料：PC、PMMA等注塑成型光學(xué)元件
• 晶體材料：氟化鈣（CaF?）、藍寶石（Al?O?）等單晶元件
• 功能鍍膜層：AR膜、IR截止膜等鍍層應(yīng)力分析
• 精密注塑件：導(dǎo)光板、棱鏡等復(fù)雜結(jié)構(gòu)部件
• 光纖預(yù)制棒：幾何對稱性驗證與殘余應(yīng)力分布測繪

檢測方法

主流檢測技術(shù)體系包含以下方法：

• 偏光顯微鏡法：基于正交偏振光干涉原理，通過條紋級數(shù)計算相位差δ=2πΔnd/λ，適用于微區(qū)應(yīng)力分析
• 光彈性法：采用數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）記錄等色線與等傾線分布，建立應(yīng)力-光學(xué)系數(shù)矩陣模型
• 激光干涉法：利用馬赫-曾德爾干涉儀測量波前畸變，分辨率可達λ/100級別
• 光柵衍射法：通過測量布拉格波長偏移量Δλ=2Λ(Δn+ΔΛ/Λ)實現(xiàn)動態(tài)應(yīng)力監(jiān)測
• 太赫茲時域光譜法（THz-TDS）：基于雙折射引起的脈沖延遲Δt=Δnd/c進行非接觸式測量
• 數(shù)字全息術(shù)：通過重建物光波相位分布φ(x,y)=2πΔn(x,y)d/λ實現(xiàn)三維應(yīng)力場重構(gòu)

檢測儀器

關(guān)鍵檢測設(shè)備技術(shù)參數(shù)如下：

• 偏光應(yīng)力儀：配備532nm激光光源與1/4波片組，測量精度0.1nm/cm，符合ISO8039標(biāo)準(zhǔn)要求
• 激光干涉儀：采用633nm氦氖激光源，Zygo干涉系統(tǒng)分辨率達0.1nmRMS，支持Φ300mm大口徑元件測試
• 光彈性測試系統(tǒng)：包含10MPCCD相機與可調(diào)諧LED光源（400-700nm），應(yīng)變靈敏度優(yōu)于5με
• 太赫茲光譜儀：工作頻段0.1-3THz，時間分辨率100fs，可穿透5mm厚非金屬材料進行內(nèi)部缺陷檢測
• 數(shù)字全息顯微鏡：配備532nmDPSS激光器與12bit科學(xué)級CMOS相機，橫向分辨率0.5μm@20物鏡配置
• 自動掃描平臺系統(tǒng)：XYZ三軸定位精度1μm/100mm行程，集成溫度控制模塊（-40℃~150℃）的環(huán)境模擬能力

檢測報告作用

檢測報告作用

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準(zhǔn)確性高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術(shù)。同時，我們將積極跟進新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。