檢測項目

激光功率密度測定、能量密度分布分析、脈沖寬度測量、重復(fù)頻率驗證、光束質(zhì)量因子M測試、光斑均勻性評估、損傷形貌顯微觀測、熱擴(kuò)散系數(shù)測定、材料吸收率分析、表面粗糙度檢測、膜層附著力測試、缺陷密度統(tǒng)計、等離子體閃光監(jiān)測、溫度場分布測繪、應(yīng)力雙折射分析、非線性效應(yīng)評估、損傷概率曲線繪制、閾值重復(fù)性驗證、長期穩(wěn)定性測試、環(huán)境適應(yīng)性驗證（溫濕度/振動）、污染敏感性分析、老化性能評估、多脈沖累積效應(yīng)研究、波長依賴性測試、偏振特性影響分析、入射角度敏感性驗證、冷卻效率測定、防護(hù)涂層有效性驗證、材料相變臨界值測定

檢測范圍

Nd:YAG激光晶體元件、KTP倍頻晶體、熔融石英窗口片、ZnSe輸出鏡、金剛石散熱基板、藍(lán)寶石保護(hù)窗片、介質(zhì)膜反射鏡、金屬膜反射鏡、二向色濾光片、梯度折射率透鏡、非球面透鏡組、光纖端面鍍膜器件、光柵衍射元件、偏振分束棱鏡、波導(dǎo)耦合器組件、量子點薄膜器件、超表面光學(xué)元件、碳化硅反射鏡基材、類金剛石涂層樣品、氮化硅陶瓷基板、氧化鋁陶瓷管件、鈦合金結(jié)構(gòu)支架、銅鎢合金散熱器、金膜衰減片組件、硅光電探測器窗口、銦錫氧化物導(dǎo)電膜層、硫化鋅整流罩元件、氟化鈣透鏡組件、釔鋁石榴石基底材料

檢測方法

1.ISO21254S-on-1測試法：通過階梯式能量遞增的脈沖序列照射樣品表面，結(jié)合微分干涉顯微技術(shù)判定50%損傷概率對應(yīng)的閾值能量密度
2.R-on-1掃描測試法：采用固定能量密度的激光束進(jìn)行多點掃描照射，通過統(tǒng)計損傷點分布確定臨界閾值
3.熱成像分析法：利用紅外熱像儀實時監(jiān)測激光輻照區(qū)域的溫度場分布，建立熱傳導(dǎo)模型計算材料熱損傷閾值
4.光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)：通過探測樣品表面因激光加熱引起的折射率梯度變化，實現(xiàn)非接觸式吸收損耗測量
5.光致發(fā)光光譜法：分析損傷區(qū)域產(chǎn)生的特征發(fā)光光譜，識別材料相變或化學(xué)結(jié)構(gòu)改變
6.聲發(fā)射監(jiān)測法：采用壓電傳感器捕捉材料損傷瞬間產(chǎn)生的彈性波信號實現(xiàn)實時損傷判定
7.白光干涉測量：利用相移干涉儀對損傷坑進(jìn)行三維形貌重構(gòu)，精確計算損傷體積與能量關(guān)系
8.拉曼光譜表征：通過分子振動譜變化分析材料晶格結(jié)構(gòu)損傷程度
9.橢偏測量技術(shù)：實時監(jiān)測薄膜光學(xué)常數(shù)變化以確定亞損傷閾值范圍內(nèi)的累積效應(yīng)
10.高速攝影記錄系統(tǒng)：采用ns級高速相機(jī)捕捉等離子體閃光動態(tài)過程輔助損傷判定

檢測標(biāo)準(zhǔn)

ISO21254-1:2011激光誘導(dǎo)損傷閾值測定第1部分：定義與通用原則
ISO11551:2022光學(xué)元件吸收率的試驗方法
GB/T16601-2017光學(xué)表面激光損傷閾值測試方法
ASTME2520-15激光束空間特性測量規(guī)程
MIL-STD-1751B軍用光學(xué)元件激光損傷測試規(guī)范
DINENISO11146-2:2021激光束寬度與發(fā)散角測量標(biāo)準(zhǔn)
GB/T31359-2015光學(xué)薄膜元件激光損傷閾值試驗方法
IEC60825-1:2014激光產(chǎn)品安全第1部分設(shè)備分類要求
ANSIZ136.1-2022激光安全使用標(biāo)準(zhǔn)
BSENISO13694:2018光學(xué)與光子學(xué)-激光束功率密度分布測試方法

檢測儀器

1.高能激光源系統(tǒng)：包含Nd:YAG基頻/倍頻光源（1064nm/532nm/355nm）、CO?激光器（10.6μm）及可調(diào)諧OPO系統(tǒng)，覆蓋200nm-10μm波段
2.光束診斷儀：集成M測量模塊的BeamProfiler系統(tǒng)，配備1200萬像素CCD和熱釋電陣列探測器
3.能量/功率計：配備熱釋電探頭（量程10μJ-10J）和積分球式探頭（100mW-10kW）的多通道測量系統(tǒng)
4.顯微觀測平臺：配備微分干涉模塊的OlympusBX63顯微鏡（1000），集成納米定位載物臺（定位精度0.1μm）
5.真空環(huán)境艙：可調(diào)節(jié)氣壓（10?Pa至常壓）和溫度（-50℃至300℃）的多參數(shù)試驗艙體
6.光譜分析系統(tǒng)：包含OceanHDX高分辨率光譜儀（200-1100nm）和FTIR紅外光譜模塊（2.5-25μm）
7.高速數(shù)據(jù)采集卡：具備16位分辨率及5GS/s采樣率的PCIe接口采集系統(tǒng)
8.三維表面輪廓儀：ZygoNewView9000白光干涉儀（垂直分辨率0.1nm）
9.紅外熱像儀：FLIRX8580sc型中波紅外相機(jī)（3-5μm），NETD＜18mK@30Hz
10.聲發(fā)射監(jiān)測裝置：配備寬帶傳感器（20kHz-1MHz）和18通道信號處理單元的動態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進(jìn)的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進(jìn)行科研實驗，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項目和方法進(jìn)行分析測試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊的科研技術(shù)。同時，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。