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能量色散X射線光譜法(EDXRF):采用半導(dǎo)體探測器直接測量特征X射線能量分布,適用于快速多元素定性定量分析。
波長色散X射線光譜法(WDXRF):通過晶體分光系統(tǒng)分離特征波長,具有更高分辨率與檢出限。
全反射X射線熒光法(TXRF):利用全反射幾何條件降低背景噪聲,適用于痕量元素超靈敏檢測。
微區(qū)X射線熒光光譜法(μ-XRF):結(jié)合聚焦光學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)μm級空間分辨率元素分布成像。
同步輻射X射線熒光法(SR-XRF):利用高亮度同步輻射光源提升檢測靈敏度與空間分辨率。
偏振能量色散X射線熒光法(P-EDXRF):采用偏振二次靶降低連續(xù)譜背景干擾。
ISO3497:2020金屬鍍層厚度測量-X射線光譜法
ASTME572-2021不銹鋼化學(xué)成分分析的波長色散X射線熒光法
GB/T21114-2019耐火材料X射線熒光光譜化學(xué)分析
JISK0119:2022熒光X射線分析方法通則
EN15305:2008無損檢測-使用X射線熒光法進(jìn)行殘余應(yīng)力測定
ISO17054:2010采用ED-XRF篩選法測定RoHS指令限制物質(zhì)
ASTMD6247-2018用單色激發(fā)EDXRF測定石油產(chǎn)品中硫的標(biāo)準(zhǔn)方法
GB/T30903-2014無機(jī)化工產(chǎn)品中雜質(zhì)元素的測定X射線熒光光譜法
ISO13196:2013土壤質(zhì)量-使用手持式XRF儀器篩選重金屬污染
EPAMethod6200-2021現(xiàn)場便攜式X射線熒光光譜法測定土壤和沉積物中金屬元素
臺式能量色散X熒光光譜儀:配置Rh靶X光管與硅漂移探測器(SDD),適用于實驗室常規(guī)元素分析。
波長色散型順序掃描光譜儀:配備多道晶體分光系統(tǒng)與流氣正比計數(shù)器,滿足高精度定量分析需求。
微區(qū)X射線熒光顯微鏡:集成聚毛細(xì)管透鏡與CCD定位系統(tǒng),實現(xiàn)50μm空間分辨率元素成像。
手持式合金分析儀:采用微型X光管與PIN二極管探測器組合設(shè)計,支持現(xiàn)場快速牌號鑒別。
在線過程控制分析儀:配置水冷式大功率X光管與自動進(jìn)樣系統(tǒng),適用于連續(xù)生產(chǎn)流程監(jiān)控。
真空型全反射熒光光譜儀:配備多層膜單色器與真空樣品室設(shè)計,實現(xiàn)ppb級痕量元素檢測。
同步輻射X熒光成像裝置:依托第三代同步輻射光源的高通量特性開展納米級元素分布研究。
偏振能量色散光譜儀:采用二次靶偏振技術(shù)有效降低背景噪聲干擾。
銷售報告:出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量,讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。
研發(fā)使用:擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進(jìn)的測試設(shè)備,可降低了研發(fā)成本,節(jié)約時間。
司法服務(wù):協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品,進(jìn)行科研實驗,為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。
大學(xué)論文:科研數(shù)據(jù)使用。
投標(biāo):檢測周期短,同時所花費的費用較低。
準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷:較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點,以達(dá)到盡快止損的目的。
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾:我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點,并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn),選擇適當(dāng)?shù)臋z測項目和方法進(jìn)行分析測試,或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作,我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力,并持續(xù)加強我們團(tuán)隊的科研技術(shù)。同時,我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn),以最大程度地滿足您的需求和市場要求。
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