檢測項目

巖石硬度測試主要測定材料抵抗機械刻劃或壓入的能力等級，采用莫氏硬度標度進行1-10級分類量化。硅含量分析聚焦二氧化硅（SiO?）質(zhì)量百分比測定，包含游離態(tài)與化合態(tài)硅的化學(xué)形態(tài)區(qū)分。

硬度測試需記錄初始刻劃深度與施力參數(shù)關(guān)系曲線，硅含量測定要求建立標準物質(zhì)校準曲線。特殊樣本需執(zhí)行三次平行實驗控制誤差范圍≤2%，高結(jié)晶度樣本需增加酸消解預(yù)處理工序。

檢測范圍

本檢測體系適用于巖漿巖（花崗巖、玄武巖）、沉積巖（砂巖、頁巖）、變質(zhì)巖（片麻巖、大理巖）三大類巖石樣本。具體涵蓋建筑工程用石材、地質(zhì)勘探巖芯樣品、礦物標本等實體材料。

特殊應(yīng)用場景包括：隧道工程圍巖穩(wěn)定性評估、石材幕墻抗風(fēng)化能力測試、硅基工業(yè)原料品質(zhì)控制等。樣本規(guī)格要求最小尺寸≥5cm立方體或直徑≥3cm圓柱體，異形樣本需進行機械加工預(yù)處理。

檢測方法

莫氏硬度測試法：采用標準硬度筆實施刻劃實驗，按GB/T23453-2009規(guī)范執(zhí)行。操作時保持刻劃速度0.5mm/s恒定值，顯微鏡觀察刻痕形貌判定等級。

X射線熒光光譜法（XRF）：依據(jù)ASTMD4326-21標準建立校準曲線，使用Rh靶X射線管（50kV/50mA）激發(fā)樣本，硅元素特征峰（1.739keV）積分時間≥30s。

紅外光譜分析法：針對非晶態(tài)硅酸鹽采用FTIR技術(shù)，在400-1400cm?波段解析Si-O-Si振動特征峰，分辨率設(shè)定4cm?。

檢測儀器

數(shù)字式莫氏硬度計：配備金剛石壓頭（錐角136）和自動加載系統(tǒng)（0.5-10N量程），集成數(shù)字顯微鏡（200）用于實時觀測刻痕形貌。

波長色散XRF光譜儀：配置4kW高頻發(fā)生器和高純鍺探測器，能量分辨率≤145eV（MnKα線），配備真空系統(tǒng)（<10Pa）及37位自動進樣裝置。

激光顯微共焦拉曼系統(tǒng)：適用于微區(qū)硅晶型分析，配置532nm激光源和1800線/mm光柵，空間分辨率達1μm級。

全自動壓汞儀：用于多孔巖石的硅骨架結(jié)構(gòu)表征，壓力范圍0.1-60000psi，孔徑測量精度0.3nm。

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標準，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術(shù)。同時，我們將積極跟進新的技術(shù)和標準，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。