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項(xiàng)目咨詢
太陽(yáng)能隱裂檢測(cè)涵蓋六大核心指標(biāo):1)隱裂紋幾何形態(tài)(包括線狀/網(wǎng)狀/放射狀裂紋分類(lèi));2)裂紋空間定位(電池片邊緣/主柵線/副柵線區(qū)域);3)裂紋尺寸參數(shù)(長(zhǎng)度≥3mm為有效判據(jù));4)單位面積裂紋密度(≤5條/cm2為A級(jí)標(biāo)準(zhǔn));5)裂紋擴(kuò)展趨勢(shì)(應(yīng)力集中區(qū)域動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè));6)電性能衰減率(開(kāi)路電壓下降≤2%,填充因子損失≤3%)。
針對(duì)雙玻組件需增加層壓應(yīng)力分析項(xiàng)目,薄膜組件則需設(shè)置橫向貫通裂紋專(zhuān)項(xiàng)檢測(cè)。老化組件需同步開(kāi)展EL衰減對(duì)比測(cè)試與IV特性曲線偏移量測(cè)量。
本檢測(cè)適用于:1)晶體硅光伏組件(單晶/多晶/PERT/TOPCon);2)薄膜光伏組件(CIGS/CdTe/a-Si);3)雙面發(fā)電組件;4)建筑一體化光伏構(gòu)件。
應(yīng)用場(chǎng)景包括:1)出廠質(zhì)量驗(yàn)收(抽樣比例≥3%);2)電站驗(yàn)收測(cè)試(全容量EL掃描);3)運(yùn)維期定期檢查(年度衰減率≥0.8%時(shí)觸發(fā));4)災(zāi)害后損傷評(píng)估(冰雹/風(fēng)壓沖擊后72小時(shí)內(nèi))。
特殊環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)需擴(kuò)展至:1)-40℃低溫冷沖擊試驗(yàn);2)85℃/85%RH雙85老化測(cè)試;3)2000Pa機(jī)械載荷循環(huán)測(cè)試后的隱裂萌生監(jiān)測(cè)。
1. 電致發(fā)光(EL)成像法:采用980nm紅外相機(jī)捕獲載流子復(fù)合輻射,曝光時(shí)間控制在30-120s范圍。缺陷識(shí)別算法需滿足EN 62788-1-6標(biāo)準(zhǔn)要求。
2. 紅外熱成像法:在STC條件下施加1.2倍標(biāo)稱(chēng)電流,使用3-5μm波段熱像儀捕捉溫度異常區(qū)域。溫差分辨率應(yīng)達(dá)到0.1K。
3. 光致發(fā)光(PL)掃描:采用532nm激光激發(fā),配備InGaAs陣列探測(cè)器。適用于雙面組件背面缺陷檢測(cè)。
4. 超聲波相控陣技術(shù):使用5MHz探頭陣列實(shí)現(xiàn)三維斷層成像,可檢出深度≥200μm的層間裂紋。
5. 機(jī)械應(yīng)力測(cè)試法:依據(jù)IEC TS 62782進(jìn)行2400Pa正向/反向循環(huán)加載,配合動(dòng)態(tài)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)監(jiān)控裂紋擴(kuò)展。
1. EL測(cè)試系統(tǒng):包含可編程直流電源(精度±0.05%)、液氮冷卻型CCD相機(jī)(量子效率>65%@900nm)、自動(dòng)載臺(tái)(定位精度±0.1mm)。
2. IV曲線測(cè)試儀:具備10ms級(jí)脈沖測(cè)量能力,電壓量程0-100V±0.2%,電流量程0-15A±0.1%。
3. 紅外熱像儀:NETD<20mK@25℃,空間分辨率1280×1024像素,配備自動(dòng)溫度補(bǔ)償模塊。
4. 超聲波探傷儀:64通道相控陣系統(tǒng),軸向分辨率≤0.1mm,配備專(zhuān)用光伏組件耦合裝置。
5. 環(huán)境試驗(yàn)箱:溫控范圍-70℃~+150℃±0.5℃,濕度控制范圍10%~98%RH±1%。
所有儀器均需通過(guò) 校準(zhǔn)認(rèn)證,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)應(yīng)滿足ISO/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)要求。現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)備需具備IP65防護(hù)等級(jí)及EMC抗干擾認(rèn)證。
銷(xiāo)售報(bào)告:出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴(lài)自己的產(chǎn)品質(zhì)量,讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。
研發(fā)使用:擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備,可降低了研發(fā)成本,節(jié)約時(shí)間。
司法服務(wù):協(xié)助相關(guān)部門(mén)檢測(cè)產(chǎn)品,進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn),為相關(guān)部門(mén)提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
大學(xué)論文:科研數(shù)據(jù)使用。
投標(biāo):檢測(cè)周期短,同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。
準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷:較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn),以達(dá)到盡快止損的目的。
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾:我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類(lèi)型的特點(diǎn),并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn),選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試,或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作,我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力,并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí),我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn),以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。
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