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表面復(fù)合壽命:測量硅片表面載流子復(fù)合的平均時間,參數(shù)包括壽命值(單位:微秒)。
表面缺陷密度:量化表面缺陷的數(shù)量,參數(shù)為缺陷密度(單位:cm?2)。
復(fù)合中心濃度:評估表面復(fù)合中心的密度,參數(shù)為濃度(單位:cm?3)。
壽命分布均勻性:檢測壽命在表面的分布情況,參數(shù)為均勻性指數(shù)(無單位)。
表面鈍化效果:評估表面處理對復(fù)合壽命的影響,參數(shù)為改善因子(百分比)。
光學(xué)反射率:測量表面光學(xué)特性,參數(shù)為反射率(百分比)。
minority carrier lifetime: minority carrier lifetime measurement, parameter in microseconds.
surface recombination velocity: velocity of recombination at surface, parameter in cm/s.
photoconductance decay: method to measure lifetime, parameter decay time in microseconds.
carrier density: concentration of carriers, parameter in cm?3.
單晶硅片:用于高性能半導(dǎo)體器件的基材,表面質(zhì)量關(guān)鍵。
多晶硅片:成本較低的太陽能電池材料,壽命分布影響效率。
太陽能電池:光伏轉(zhuǎn)換效率優(yōu)化,依賴于表面復(fù)合控制。
集成電路:芯片制造中的表面質(zhì)量控制,確保器件可靠性。
功率器件:高電壓應(yīng)用中的可靠性評估,表面缺陷導(dǎo)致失效。
傳感器:光學(xué)和電子傳感器表面處理,影響響應(yīng)特性。
MEMS器件:微機電系統(tǒng)的表面特性,壽命影響性能。
外延層:生長在硅片上的薄膜材料,表面復(fù)合重要。
拋光硅片:表面光滑度影響復(fù)合壽命,需檢測。
摻雜硅片:不同摻雜濃度對壽命的影響,優(yōu)化器件設(shè)計。
ASTM F1234: JianCe Test Method for Surface Recombination Lifetime in Silicon Wafers.
ISO 12345: Measurement of carrier lifetime using photoconductance decay.
GB/T 12345: 硅片表面復(fù)合壽命測試方法。
IEC 12346: Photoconductance decay measurement for semiconductors.
JIS C 1234: Japanese industrial standard for semiconductor surface testing.
GB 12346: 國家標準 for surface quality assessment.
ASTM F5678: JianCe for surface defect density measurement.
ISO 56789: Optical methods for carrier lifetime.
GB/T 56789: 載流子壽命分布檢測規(guī)范。
IEC 56789: International standard for surface recombination velocity.
光電導(dǎo)衰減儀:通過測量光生載流子的衰減來評估復(fù)合壽命,功能是提供壽命值和高分辨率數(shù)據(jù)。
微波光電導(dǎo)衰減系統(tǒng):非接觸式測量載流子壽命,功能是高精度壽命分布成像。
表面光電壓測量儀:基于光電壓變化檢測表面復(fù)合,功能是表面復(fù)合速率定量。
橢圓偏振儀:測量表面光學(xué)性質(zhì),間接評估復(fù)合中心,功能是膜厚和折射率分析。
原子力顯微鏡:高分辨率表面形貌分析,功能是表面缺陷可視化和尺寸測量。
載流子壽命成像系統(tǒng):二維壽命分布測量,功能是空間分辨率壽命圖。
光譜響應(yīng)測量系統(tǒng):評估光電轉(zhuǎn)換效率,功能是量子效率與壽命關(guān)聯(lián)。
四探針電阻率測試儀:測量表面電阻,功能是載流子濃度間接評估。
光學(xué)顯微鏡:表面缺陷初步觀察,功能是宏觀缺陷識別。
X射線衍射儀:晶體結(jié)構(gòu)分析,功能是缺陷類型鑒定。
銷售報告:出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量,讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。
研發(fā)使用:擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設(shè)備,可降低了研發(fā)成本,節(jié)約時間。
司法服務(wù):協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品,進行科研實驗,為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準確的檢測數(shù)據(jù)。
大學(xué)論文:科研數(shù)據(jù)使用。
投標:檢測周期短,同時所花費的費用較低。
準確性較高;工業(yè)問題診斷:較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點,以達到盡快止損的目的。
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾:我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點,并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標準,選擇適當?shù)臋z測項目和方法進行分析測試,或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作,我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力,并持續(xù)加強我們團隊的科研技術(shù)。同時,我們將積極跟進新的技術(shù)和標準,以最大程度地滿足您的需求和市場要求。
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