檢測(cè)項(xiàng)目

衍射角測(cè)量重復(fù)性：評(píng)估同一條件下多次測(cè)量的角度值離散程度，檢測(cè)參數(shù)包括標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.002°、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.1%。

角度偏差校準(zhǔn)：對(duì)比儀器測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)參考值的差異，檢測(cè)參數(shù)為絕對(duì)偏差≤0.005°（2θ范圍10°~80°）。

波長(zhǎng)校準(zhǔn)一致性：驗(yàn)證衍射儀所用單色器波長(zhǎng)輸出與標(biāo)稱值的吻合度，檢測(cè)參數(shù)為波長(zhǎng)誤差≤0.001nm（Cu Kα靶）。

探測(cè)器線性響應(yīng)：測(cè)試探測(cè)器輸出信號(hào)與入射X射線強(qiáng)度的線性關(guān)系，檢測(cè)參數(shù)為線性相關(guān)系數(shù)≥0.999（強(qiáng)度范圍103~10?計(jì)數(shù)/s）。

溫度漂移影響：測(cè)量環(huán)境溫度變化對(duì)衍射角測(cè)量的影響程度，檢測(cè)參數(shù)為溫度每變化1℃，角度漂移≤0.0005°（溫度范圍20±5℃）。

機(jī)械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性：評(píng)估衍射儀旋轉(zhuǎn)軸、樣品臺(tái)等部件的機(jī)械精度保持能力，檢測(cè)參數(shù)為軸間垂直度偏差≤0.003°、樣品臺(tái)平面度≤0.002mm。

數(shù)據(jù)采集分辨率：檢測(cè)儀器對(duì)衍射角信號(hào)的分辨能力，檢測(cè)參數(shù)為最小可檢測(cè)角度步長(zhǎng)≤0.0005°（數(shù)字量化位數(shù)≥16bit）。

校準(zhǔn)源強(qiáng)度穩(wěn)定性：驗(yàn)證校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)晶體或放射性源的輸出強(qiáng)度波動(dòng)，檢測(cè)參數(shù)為強(qiáng)度變化率≤0.5%/h（連續(xù)工作4小時(shí)）。

多軸聯(lián)動(dòng)精度：測(cè)試多維衍射系統(tǒng)中各運(yùn)動(dòng)軸協(xié)同運(yùn)動(dòng)的定位準(zhǔn)確性，檢測(cè)參數(shù)為聯(lián)動(dòng)定位誤差≤0.003°（三維聯(lián)動(dòng)模式下）。

環(huán)境振動(dòng)敏感性：評(píng)估外界振動(dòng)對(duì)衍射角測(cè)量的干擾程度，檢測(cè)參數(shù)為振動(dòng)幅值≥1μm時(shí)，角度測(cè)量偏差≤0.001°（振動(dòng)頻率10~100Hz）。

檢測(cè)范圍

X射線衍射儀：用于材料晶體結(jié)構(gòu)分析的實(shí)驗(yàn)室級(jí)X射線衍射系統(tǒng)，覆蓋粉末衍射、單晶衍射等模式。

電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）：基于掃描電子顯微鏡的晶體取向分析設(shè)備，應(yīng)用于微區(qū)結(jié)構(gòu)表征。

同步輻射X射線衍射裝置：利用同步輻射光源的高亮度X射線進(jìn)行納米尺度晶體結(jié)構(gòu)分析的大型科研設(shè)備。

薄膜衍射儀：針對(duì)薄膜材料的掠入射X射線衍射系統(tǒng)，用于薄膜厚度、晶格常數(shù)測(cè)量。

微區(qū)X射線衍射儀（μ-XRD）：配備聚焦X射線束的微區(qū)分析設(shè)備，適用于微小區(qū)域（≤10μm）的晶體結(jié)構(gòu)檢測(cè)。

工業(yè)X射線衍射在線檢測(cè)設(shè)備：集成于生產(chǎn)線用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料相變的衍射系統(tǒng)，支持高溫、高粉塵環(huán)境。

中子衍射儀：利用中子束進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析的設(shè)備，適用于輕元素（如氫、鋰）的衍射研究。

便攜式X射線衍射儀：小型化、可移動(dòng)的衍射系統(tǒng)，用于現(xiàn)場(chǎng)快速材料成分與結(jié)構(gòu)分析。

多晶X射線衍射儀（粉末衍射儀）：常規(guī)實(shí)驗(yàn)室用粉末樣品衍射分析設(shè)備，支持物相定性定量分析。

單色器校準(zhǔn)裝置：用于校準(zhǔn)衍射儀單色器波長(zhǎng)輸出的專用設(shè)備，配套標(biāo)準(zhǔn)晶體與角度測(cè)量模塊。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E915-16《X射線衍射儀角度校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》：規(guī)定X射線衍射儀2θ角度測(cè)量的校準(zhǔn)程序與技術(shù)要求。

ISO 20998-1:2019《微束分析-電子背散射衍射-第1部分：儀器性能的表征》：規(guī)范電子背散射衍射系統(tǒng)的角度校準(zhǔn)與性能評(píng)估方法。

GB/T 16594-2009《微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法》：涉及掃描電子顯微鏡及EBSD系統(tǒng)的角度測(cè)量精度校準(zhǔn)要求。

GB/T 33260.1-2016《電子背散射衍射分析方法 第1部分：總則》：規(guī)定電子背散射衍射分析中儀器校準(zhǔn)的基本原則與方法。

ISO 14997:2000《表面特征的圖像分析-方法》：適用于EBSD系統(tǒng)中衍射花樣圖像的角度測(cè)量與分析方法。

ASTM E2905/E2905M-17《同步輻射X射線衍射儀角度校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)指南》：針對(duì)同步輻射光源的衍射儀角度校準(zhǔn)的技術(shù)指南。

GB/T 32172-2015《X射線熒光光譜儀 性能測(cè)試方法》：包含X射線衍射相關(guān)儀器的角度測(cè)量性能測(cè)試要求。

ISO 19638:2016《電子顯微鏡-掃描電子顯微鏡（SEM）的校準(zhǔn)》：涉及SEM及EBSD系統(tǒng)的幾何校準(zhǔn)，包括角度測(cè)量部分。

ASTM D5766/D5766M-18《聚合物結(jié)晶度的X射線衍射測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》：規(guī)定聚合物結(jié)晶度測(cè)試中衍射儀角度校準(zhǔn)的要求。

GB/T 21838-2008《金屬材料 線材 單軸試樣 彎曲試驗(yàn)方法》：雖主要針對(duì)彎曲試驗(yàn)，但涉及衍射儀輔助檢測(cè)時(shí)的角度校準(zhǔn)參考。

檢測(cè)儀器

高精度角度編碼器：采用多極光電信號(hào)的旋轉(zhuǎn)角度測(cè)量裝置，分辨率可達(dá)0.0001°，用于校準(zhǔn)衍射儀旋轉(zhuǎn)軸的角度輸出精度。

標(biāo)準(zhǔn)晶體校準(zhǔn)片：經(jīng)計(jì)量認(rèn)證的多晶或單晶標(biāo)準(zhǔn)樣品，具有已知精確衍射角的參考面，用于標(biāo)定衍射儀的2θ角度基準(zhǔn)。

多通道探測(cè)器陣列：包含多個(gè)獨(dú)立探測(cè)單元的半導(dǎo)體或閃爍體探測(cè)器，可同時(shí)采集不同角度的衍射信號(hào)，用于評(píng)估探測(cè)器線性響應(yīng)與角度覆蓋范圍。

環(huán)境振動(dòng)隔離系統(tǒng)：通過(guò)主動(dòng)或被動(dòng)隔振技術(shù)（如空氣彈簧、壓電陶瓷作動(dòng)器）將振動(dòng)幅值降低至0.1μm以下的平臺(tái)，用于排除環(huán)境振動(dòng)對(duì)衍射角測(cè)量的干擾。

波長(zhǎng)校準(zhǔn)單色器：集成晶體單色器與角度調(diào)整機(jī)構(gòu)的裝置，可將入射X射線單色化并提供已知波長(zhǎng)的參考光束，用于校準(zhǔn)衍射儀的單色器波長(zhǎng)輸出。

微位移測(cè)量系統(tǒng)：基于激光干涉原理的高精度位移測(cè)量設(shè)備，分辨率可達(dá)0.1nm，用于測(cè)量衍射儀樣品臺(tái)或探測(cè)器移動(dòng)部件的微小位移誤差。

恒溫恒濕箱：可精確控制溫度（±0.1℃）和濕度（±1%RH）的環(huán)境試驗(yàn)箱，用于模擬不同環(huán)境條件下的衍射儀角度漂移測(cè)試。

數(shù)據(jù)采集卡：支持高速數(shù)據(jù)采集（采樣率≥1MHz）與16bit以上分辨率的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，用于精確記錄衍射角信號(hào)的時(shí)間序列數(shù)據(jù)。

標(biāo)準(zhǔn)輻射源：經(jīng)國(guó)家計(jì)量機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)的X射線管或放射性同位素源，輸出強(qiáng)度穩(wěn)定且波長(zhǎng)已知，用于校準(zhǔn)衍射儀的輻射強(qiáng)度與角度關(guān)聯(lián)特性。

自動(dòng)角度校準(zhǔn)平臺(tái)：配備步進(jìn)電機(jī)與閉環(huán)控制系統(tǒng)的可編程旋轉(zhuǎn)平臺(tái)，支持預(yù)設(shè)角度點(diǎn)的精確運(yùn)動(dòng)，用于自動(dòng)化角度校準(zhǔn)流程的實(shí)施。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。