檢測(cè)項(xiàng)目

游離硅含量測(cè)定：量化碳化硅中未結(jié)合硅的質(zhì)量百分比，檢測(cè)范圍0.01%~10.0%，精度±0.005%。

總硅元素分析：測(cè)定材料中總硅元素的含量，檢測(cè)范圍50.0%~99.9%，誤差限±0.1%。

碳元素含量測(cè)試：評(píng)估碳化硅中碳的比率，檢測(cè)范圍30.0%~50.0%，測(cè)量精度±0.15%。

雜質(zhì)元素檢測(cè)：分析鐵、鋁、鈣等雜質(zhì)含量，檢測(cè)限0.001%，重復(fù)性誤差±0.0005%。

晶體結(jié)構(gòu)表征：識(shí)別α-SiC或β-SiC晶型占比，分辨率0.01μm，角度范圍5°~80°。

密度測(cè)定：計(jì)算材料體積密度，測(cè)量范圍1.5g/cm3~3.5g/cm3，精度±0.02g/cm3。

孔隙率測(cè)試：評(píng)估材料內(nèi)部孔隙體積，檢測(cè)范圍0.1%~30.0%，誤差±0.05%。

熱穩(wěn)定性分析：檢測(cè)材料在高溫下的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，溫度范圍1000°C~1600°C，升溫速率10°C/min。

抗熱震性評(píng)估：評(píng)價(jià)材料抵抗溫度驟變能力，循環(huán)次數(shù)0~100次，溫度差ΔT=500°C~1000°C。

化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試：測(cè)定耐酸堿性性能，腐蝕介質(zhì)pH=1~14，腐蝕速率測(cè)量精度±0.01mm/year。

熱導(dǎo)率測(cè)量：評(píng)估材料熱傳導(dǎo)效率，范圍1W/(m·K)~200W/(m·K)，誤差±0.5W/(m·K)。

機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試：分析抗壓和抗折強(qiáng)度，負(fù)載范圍0~1000MPa，精度±0.1MPa。

檢測(cè)范圍

碳化硅耐火磚：高溫爐窯內(nèi)襯耐火材料。

爐材板材：工業(yè)生產(chǎn)爐身結(jié)構(gòu)組件。

陶瓷燒結(jié)爐襯：陶瓷制造高溫?zé)Y(jié)設(shè)備內(nèi)層。

鋼鐵冶金爐襯：鋼鐵冶煉高爐耐火材料。

玻璃熔爐材：玻璃熔制爐內(nèi)部襯里。

有色金屬冶煉爐材：鋁銅等金屬熔煉爐組件。

熱處理爐部件：機(jī)械熱處理設(shè)備高溫區(qū)材料。

化工反應(yīng)器襯里：耐腐蝕化學(xué)反應(yīng)器內(nèi)襯。

電子工業(yè)爐材：半導(dǎo)體生產(chǎn)高溫爐組件。

航空航天高溫部件：發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒室高溫襯材。

能源設(shè)備爐襯：燃?xì)廨啓C(jī)或鍋爐耐火材料。

實(shí)驗(yàn)室高溫容器：科研用坩堝或反應(yīng)容器。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTM C1338: Standard Test Methods for Determination of Carbon and Silicon in Silicon Carbide.

ISO 9286: Abrasive grains - Chemical analysis of fused aluminum oxide, silicon carbide and other abrasives.

GB/T 16555: Test methods for chemical analysis of silicon carbide.

GB/T 29911: Test method for thermal shock resistance of refractories.

ISO 10081-2: Classification of dense shaped refractory products - Part 2: Alumina-silica.

ASTM C20: Standard Test Methods for Apparent Porosity, Water Absorption, Apparent Specific Gravity, and Bulk Density of Burned Refractory Brick.

ISO 1927-8: Monolithic refractories - Part 8: Determination of thermal shock resistance.

GB/T 3007: Test method for refractoriness of refractory materials.

檢測(cè)儀器

X射線熒光光譜儀：用于元素含量分析，定量測(cè)定游離硅和雜質(zhì)元素，檢測(cè)限0.001%，能量范圍1keV~50keV。

掃描電子顯微鏡：觀察材料微觀形貌和結(jié)構(gòu)，分辨率1nm，放大倍數(shù)10~100000X，輔助能譜分析。

熱重分析儀：評(píng)估材料熱穩(wěn)定性和成分變化，溫度范圍室溫~1600°C，靈敏度0.1μg，升溫速率0.1°C/min~100°C/min。

X射線衍射儀：分析晶體結(jié)構(gòu)和相組成，角度精度0.001°，掃描速度0.5°/min~10°/min，用于晶型識(shí)別。

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀：檢測(cè)微量元素雜質(zhì)，檢出限0.0001%，波長(zhǎng)范圍165nm~900nm，重復(fù)性誤差±1%。

密度計(jì)：測(cè)量材料體積密度，精度±0.001g/cm3，基于阿基米德原理，負(fù)載范圍0~1000g。

熱導(dǎo)率測(cè)試儀：量化熱傳導(dǎo)性能，溫度范圍-50°C~1500°C，測(cè)量精度±0.1W/(m·K)，使用穩(wěn)態(tài)法。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。