檢測項目

古陶瓷質(zhì)量檢測體系包含六大核心模塊：1)胎體質(zhì)地密度與礦物組成分析；2)釉面化學(xué)成分及呈色機理研究；3)裝飾紋樣工藝特征鑒別；4)燒制溫度曲線復(fù)原；5)碳十四同位素與熱釋光年代測定；6)修復(fù)痕跡顯微鑒定。其中胎釉成分需精確到微量元素級別（ppm級），燒制溫度誤差控制在20℃范圍內(nèi)。

檢測范圍

本檢測體系適用于：1)各歷史時期（唐/宋/元/明/清）官窯及民窯制品；2)不同窯系（龍泉/景德鎮(zhèn)/德化/耀州等）典型器物；3)包括瓶/罐/碗/盤/塑像等全品類器型；4)出土物與傳世品的差異化分析；5)修復(fù)前原狀評估與修復(fù)后效果驗證。特殊樣本涵蓋低溫陶器（600-800℃）、炻器（1000-1150℃）及硬質(zhì)瓷（1250-1400℃）等不同燒結(jié)程度器物。

檢測方法

采用三級遞進式分析策略：一級篩查使用X射線熒光光譜（XRF）進行元素半定量分析；二級驗證采用質(zhì)子激發(fā)X射線發(fā)射譜（PIXE）實現(xiàn)痕量元素檢測；三級確認運用激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜（LA-ICP-MS）完成同位素比值測定。年代學(xué)檢測同步應(yīng)用熱釋光測年法與碳十四加速器質(zhì)譜（AMS）技術(shù)交叉驗證。

微觀結(jié)構(gòu)解析采用場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）配合能譜儀（EDS），分辨率達1.5nm級別。釉層氣泡分布統(tǒng)計使用工業(yè)CT斷層掃描技術(shù)，重建精度優(yōu)于10μm。紋飾工藝鑒別依托超景深三維顯微系統(tǒng)（VHX-6000），可實現(xiàn)8000倍光學(xué)放大與三維形貌建模。

檢測儀器

核心設(shè)備集群包含：1)同步輻射X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀（SR-XAFS），用于研究釉料中過渡金屬元素價態(tài)；2)傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）配備ATR附件，可無損分析有機物殘留；3)高分辨率顯微共聚焦拉曼光譜系統(tǒng)（532nm/785nm雙激光源），專用于低溫釉料晶相識別；4)全自動熱膨脹儀（DIL）測定古代胎體燒結(jié)溫度曲線。

輔助設(shè)備包括：三維白光干涉表面輪廓儀（垂直分辨率0.1nm）、大樣品室X射線衍射儀（XRD）以及微波消解-電感耦合等離子體發(fā)射光譜（ICP-OES）聯(lián)用系統(tǒng)。所有儀器均通過ISO/IEC17025實驗室認證并定期參與國際比對實驗。

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標準，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術(shù)。同時，我們將積極跟進新的技術(shù)和標準，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。