檢測(cè)項(xiàng)目

薄膜電池核心檢測(cè)項(xiàng)目包含六大技術(shù)維度：

光電轉(zhuǎn)換效率：在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件（STC）下測(cè)定最大功率點(diǎn)輸出特性

光譜響應(yīng)特性：量化分析300-1200nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的量子效率分布

薄膜結(jié)構(gòu)參數(shù)：包括吸收層厚度（±5nm精度）、界面粗糙度（≤3nm）及層間結(jié)合強(qiáng)度

電學(xué)性能指標(biāo)：開路電壓（Voc）、短路電流（Isc）、填充因子（FF）的溫度系數(shù)測(cè)試

環(huán)境耐受性：濕熱循環(huán)（85℃/85%RH）、紫外老化（15kWh/m2）、機(jī)械載荷（5400Pa）測(cè)試

缺陷分析：微裂紋（≤5μm級(jí)）、針孔密度（≤10個(gè)/cm2）等微觀缺陷表征

檢測(cè)范圍

檢測(cè)方法

IV特性測(cè)試法

采用AAA級(jí)太陽(yáng)模擬器（光譜匹配度±5%），在25±1℃控溫條件下進(jìn)行AM1.5G光譜輻照度校準(zhǔn)。通過(guò)四線法測(cè)量系統(tǒng)消除接觸電阻影響，采樣間隔≤10ms。

量子效率譜分析法

使用雙光路鎖相放大系統(tǒng)，單色光波長(zhǎng)步進(jìn)≤5nm，偏置光源強(qiáng)度調(diào)節(jié)范圍0.1-1.5sun。采用標(biāo)準(zhǔn)Si/Ge參比電池進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。

加速老化試驗(yàn)法

濕熱循環(huán)測(cè)試執(zhí)行85℃/85%RH條件交替循環(huán)（每周期24h），紫外老化采用UVA-340燈管（0.76W/m2@340nm）持續(xù)輻照2000h。

微觀結(jié)構(gòu)表征法

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FESEM）工作電壓≤5kV實(shí)現(xiàn)納米級(jí)表面形貌觀測(cè)；X射線衍射（XRD）采用θ-2θ掃描模式分析晶體擇優(yōu)取向。

檢測(cè)儀器

SS-1000AIII型太陽(yáng)模擬器

光譜匹配等級(jí)A級(jí)（350-1100nm），輻照不均勻度＜±2%，配備水冷式氙燈光源系統(tǒng)

QEX10光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)

雙光路單色儀分辨率0.1nm，波長(zhǎng)精度±0.02nm，配備四象限可調(diào)偏置光源模塊

ETC-324氣候箱

-70℃~+180℃溫控范圍，濕度控制精度±1%RH，集成太陽(yáng)輻射模擬模塊（300-3000nm）

D8 ADVANCE XRD系統(tǒng)

Cu靶Kα輻射源（λ=1.5406?），測(cè)角儀角度重復(fù)性±0.0001°，配備LYNXEYE XE-T探測(cè)器

PGSTAT302N電化學(xué)工作站

電流分辨率10fA，電位控制精度±0.1mV，支持EIS阻抗譜測(cè)試（頻率范圍10μHz~7MHz）

Dimension Icon AFM系統(tǒng)

掃描分辨率0.1nm Z軸精度，峰值力輕敲模式實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)表面形貌表征

GDS850A輝光放電光譜儀

深度分辨率1nm/層，元素檢測(cè)限達(dá)ppm級(jí)，適用于多層膜結(jié)構(gòu)成分分析

Nicolet iS50 FTIR系統(tǒng)

光譜范圍7800-350cm?1，分辨率0.09cm?1，配備ATR附件實(shí)現(xiàn)無(wú)損快速檢測(cè)

Lambda1050+紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

波長(zhǎng)精度±0.08nm,吸光度精度±0.003A,配置150mm積分球模塊實(shí)現(xiàn)漫反射率測(cè)試

TDS1200熱脫附譜儀

升溫速率0.1-100℃/min可調(diào),真空度維持≤5×10??Pa,用于界面雜質(zhì)氣體分析

TOF.SIMS5二次離子質(zhì)譜儀

空間分辨率≤50nm,質(zhì)量分辨率(m/Δm)＞17000@m/z=29,深度剖析速率＞1μm/min

EBIC-2023電子束感應(yīng)電流系統(tǒng)

束流穩(wěn)定性＜0.5%/h,配備低溫樣品臺(tái)(77K~400K),實(shí)現(xiàn)載流子輸運(yùn)特性原位表征

PL-R1光致發(fā)光成像系統(tǒng)

532nm激光激發(fā)源(功率密度可調(diào)0.01-10W/cm2),InGaAs陣列探測(cè)器靈敏度800-1600nm

XploRA PLUS拉曼光譜儀

空間分辨率＜1μm,波數(shù)精度±0.35cm?1,配置785/532nm雙激光源及深耗盡型CCD

DektakXT臺(tái)階儀

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。