檢測項(xiàng)目

臨武礦物成分檢測體系包含四大核心模塊：主量元素定量分析模塊重點(diǎn)測定SiO?、Al?O?、Fe?O?等占比超過1%的氧化物組分；微量元素分析模塊采用ppb級靈敏度設(shè)備檢測稀土元素（La-Lu）、貴金屬（Au、Ag）及有害元素（As、Hg）含量；物相組成鑒定模塊通過晶體結(jié)構(gòu)解析確定石英、長石等具體礦物形態(tài)；物理性能測試模塊涵蓋莫氏硬度測定（ASTM E384）、比重測試（GB/T 23561）及熱穩(wěn)定性分析（TG-DSC）。

檢測范圍

本檢測體系覆蓋臨武地區(qū)12類主要礦床類型：包括錫石-硫化物礦床（香花嶺礦區(qū)）、方解石-螢石脈狀礦床（三十六灣礦區(qū)）及花崗巖型稀有金屬礦床（香花鋪礦區(qū)）。具體涵蓋原礦（塊度＞5cm）、精礦（粒度200目）、尾礦及冶煉中間產(chǎn)物等全流程物料。特殊樣品包括熱液蝕變巖（綠泥石化、硅化）、偉晶巖分異體及表生氧化帶次生礦物。

檢測方法

主量元素分析采用波長色散X射線熒光光譜法（WDXRF）參照GB/T 14506.28標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行；微量元素測定使用電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）滿足ISO 17294-2規(guī)范要求；物相鑒定執(zhí)行JY/T 009-1996轉(zhuǎn)靶多晶X射線衍射方法；電子探針微區(qū)分析（EPMA）依據(jù)ASTM E1587標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行元素面分布掃描。特殊樣品預(yù)處理包含微波消解（EPA 3052）、低溫等離子灰化（ASTM D3174）及重液分離（GB/T 17412.3）等前處理工序。

檢測儀器

配備日本理學(xué)Ultima IV型X射線衍射儀（角度重現(xiàn)性±0.0001°）、德國布魯克S8 TIGER系列WDXRF光譜儀（檢出限0.01%）、美國珀金埃爾默NexION 2000 ICP-MS系統(tǒng)（質(zhì)量數(shù)范圍6-280amu）。輔助設(shè)備包括FEI Quanta 650 FEG場發(fā)射掃描電鏡（分辨率1nm）、日本電子JXA-8530F電子探針（束斑1μm）及梅特勒TGA/DSC3+同步熱分析儀（溫度精度±0.1℃）。所有設(shè)備均通過 校準(zhǔn)認(rèn)證并參與國際地質(zhì)分析者協(xié)會(huì)（IAG）年度能力驗(yàn)證。

檢測報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進(jìn)的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。