檢測(cè)項(xiàng)目

Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（輪廓最大高度）、Rq（輪廓均方根偏差）、Rt（輪廓總高度）、Rp（輪廓峰高）、Rv（輪廓谷深）、Rsk（輪廓偏斜度）、Rku（輪廓陡度）、Rsm（輪廓單元平均寬度）、Rmr（輪廓支承率曲線）、Pc（峰計(jì)數(shù)）、Wt（波紋度總高度）、Wa（波紋度算術(shù)平均偏差）、Wz（波紋度最大高度）、RΔq（相對(duì)均方根斜率）、Rλq（均方根波長(zhǎng)）、Rlo（局部粗糙度）、Rlc（輪廓長(zhǎng)度比）、Rk（核心粗糙度深度）、Rvk（縮減峰高）、Mr1（材料率1）、Mr2（材料率2）、Rx（輪廓極差）、Ry5（5點(diǎn)峰谷高度）、R3z（三峰谷系統(tǒng)高度）、Rmax（單峰最大高度）、Rpm（平均峰間距）、Rtm（平均谷間距、Rα（振幅密度參數(shù)）、RSm（輪廓單元平均寬度）

檢測(cè)范圍

發(fā)動(dòng)機(jī)缸體、軸承滾道面、齒輪嚙合面、液壓閥芯、模具型腔、光學(xué)鏡片、半導(dǎo)體晶圓、刀具刃口、密封環(huán)端面、活塞桿表面、渦輪葉片、軸承保持架、沖壓模具、注塑模仁、金屬軋輥、陶瓷基板、人工關(guān)節(jié)表面、PCB鉆孔內(nèi)壁、螺紋牙型面、軸瓦內(nèi)襯層、拉絲模具孔道、金剛石涂層表面、金屬增材制造層紋、電鍍層截面、拋光石材表面、橡膠密封面復(fù)合層壓板界面、碳纖維復(fù)合材料斷面

檢測(cè)方法

觸針式輪廓法：通過金剛石探針在表面滑移獲取垂直位移信號(hào)，可測(cè)得Ra/Rz等二維參數(shù)。
白光干涉法：利用光波干涉原理重建三維形貌，適用于納米級(jí)超光滑表面測(cè)量。
激光共聚焦顯微鏡：采用點(diǎn)掃描方式獲取三維表面數(shù)據(jù)，測(cè)量精度達(dá)0.01μm。
原子力顯微鏡：通過探針原子間作用力成像，實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的三維形貌分析。
數(shù)字圖像相關(guān)法：基于表面散斑圖像匹配計(jì)算三維位移場(chǎng)。
散射光分析法：通過激光散射強(qiáng)度分布反演表面粗糙度特征。
電容式測(cè)量法：利用電極與表面的電容變化量表征微觀起伏。
超聲波反射法：通過聲波反射信號(hào)頻譜分析評(píng)估表面狀態(tài)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T3505-2009產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)
ISO4287:1997幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)-表面結(jié)構(gòu):輪廓法-術(shù)語(yǔ)定義與表面結(jié)構(gòu)參數(shù)
ASMEB46.1-2019表面紋理標(biāo)準(zhǔn)
DINENISO21920-2:2022幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)-表面結(jié)構(gòu):區(qū)域法-第2部分:術(shù)語(yǔ)定義與表面結(jié)構(gòu)參數(shù)
JISB0601:2022產(chǎn)品幾何規(guī)格(GPS)-表面結(jié)構(gòu):輪廓法-術(shù)語(yǔ)定義與表面結(jié)構(gòu)參數(shù)
GB/T10610-2009產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法評(píng)定表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則和方法
ISO13565-3:2000幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)-表面結(jié)構(gòu):輪廓法-具有分層功能特性的表面-第3部分:用概率支承率曲線表征高度特性
ASTME430-19用光學(xué)散射儀測(cè)量表面光潔度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
GB/T19067.1-2003產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第1部分:表面結(jié)構(gòu)的表示方法
ISO25178-2:2022幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)-表面結(jié)構(gòu):區(qū)域法-第2部分:術(shù)語(yǔ)定義與表面結(jié)構(gòu)參數(shù)

檢測(cè)儀器

接觸式輪廓儀：配備高精度電感傳感器與金剛石探針組件的臺(tái)式設(shè)備。
白光干涉三維形貌儀：采用Michelson干涉光路與CCD成像系統(tǒng)的高速測(cè)量裝置。
激光共聚焦顯微鏡：集成532nm激光源與壓電陶瓷掃描臺(tái)的顯微測(cè)量系統(tǒng)。
原子力顯微鏡(AFM)：配備微懸臂探針與納米定位平臺(tái)的超高分辨率設(shè)備。
便攜式粗糙度計(jì)：內(nèi)置加速度補(bǔ)償傳感器的現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)量?jī)x器。
全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x：結(jié)合數(shù)字圖像處理與運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)的非接觸式測(cè)量平臺(tái)。
超聲波表面分析儀：采用5MHz高頻探頭的工業(yè)在線監(jiān)測(cè)設(shè)備。
激光散射分析系統(tǒng)：基于夫瑯禾費(fèi)衍射原理的快速篩查裝置。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。