檢測(cè)項(xiàng)目

相組成含量檢測(cè)主要包含以下核心項(xiàng)目：物相定性分析（Phase Identification）、物相定量分析（Quantitative Phase Analysis）、晶型結(jié)構(gòu)表征（Crystal Structure Characterization）、非晶態(tài)含量測(cè)定（Amorphous Content Determination）以及多相界面分析（Interfacial Phase Analysis）。其中物相定量分析需依據(jù)ASTM E1225、ISO 20203等標(biāo)準(zhǔn)建立校準(zhǔn)曲線，典型測(cè)量不確定度應(yīng)控制在±1.5%以內(nèi)。

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)適用于金屬合金（如鈦合金β相含量）、陶瓷材料（如氧化鋯單斜/四方相比例）、高分子復(fù)合材料（如共混物結(jié)晶度）、地質(zhì)礦物（如石英/長(zhǎng)石含量比）及功能材料（如鋰電正極材料各組分分布）。特殊應(yīng)用場(chǎng)景包括高溫合金γ'相析出量測(cè)定（GB/T 13303）、水泥熟料礦物組成分析（GB/T 176）以及藥物多晶型定量（USP<941>）等科學(xué)領(lǐng)域。

檢測(cè)方法

1. X射線衍射法（XRD）：基于Rietveld全譜擬合的定量相分析可達(dá)到0.5%檢出限，配備高溫附件可進(jìn)行原位相變研究
2. 電子背散射衍射（EBSD）：空間分辨率達(dá)50nm，適用于微區(qū)織構(gòu)與相分布關(guān)聯(lián)分析
3. 熱分析法（DSC/TGA）：通過特征吸/放熱峰面積計(jì)算結(jié)晶度或分解相含量
4. 圖像分析法：結(jié)合SEM-EDS實(shí)現(xiàn)μm級(jí)多相體系統(tǒng)計(jì)分布表征
5. 拉曼光譜法：適用于碳材料sp2/sp3雜化比例等特殊體系分析

檢測(cè)儀器

1. X射線衍射儀：配備高速一維探測(cè)器（如D8 ADVANCE），角度重復(fù)性≤0.0001°
2. 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：具備EBSD和WDS聯(lián)用功能（如ZEISS GeminiSEM 500）
3. 同步熱分析儀：溫度精度±0.1℃，量熱靈敏度＜1μW（如NETZSCH STA 449 F5）
4. 顯微共焦拉曼光譜儀：空間分辨率＜300nm，激光波長(zhǎng)覆蓋UV-Vis-NIR波段
5. 全自動(dòng)圖像分析系統(tǒng)：配備AI識(shí)別算法，可處理10^6像素級(jí)微觀結(jié)構(gòu)圖像

檢測(cè)報(bào)告作用

檢測(cè)報(bào)告作用

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。