檢測(cè)項(xiàng)目

轉(zhuǎn)換效率、開(kāi)路電壓、短路電流、填充因子、量子效率、暗電流特性、串聯(lián)電阻、并聯(lián)電阻、溫度系數(shù)、光譜響應(yīng)范圍、光衰減率、熱斑效應(yīng)、濕熱老化性能、紫外老化性能、機(jī)械彎曲強(qiáng)度、抗沖擊性能、透光率均勻性、電極附著力、封裝氣密性、PID效應(yīng)耐受度、電勢(shì)誘導(dǎo)衰減率、濕漏電流測(cè)試、絕緣電阻值、耐鹽霧等級(jí)、抗風(fēng)壓強(qiáng)度、冰雹沖擊試驗(yàn)、雙85加速老化測(cè)試（85℃/85%RH）、電勢(shì)分布均勻性、薄膜厚度偏差率、缺陷密度分析

檢測(cè)范圍

CIGS薄膜太陽(yáng)能電池組件、CdTe薄膜光伏板層壓件、非晶硅柔性薄膜電池片、有機(jī)聚合物薄膜電池模組、鈣鈦礦薄膜光伏器件、透明導(dǎo)電氧化物基板樣品（ITO/FTO）、金屬背電極鍍層試樣（Mo/Al）、緩沖層材料（CdS/ZnO）、封裝膠膜（EVA/PVB）復(fù)合體測(cè)試樣片、抗反射涂層試片（SiNx/MgF2）、激光刻劃線完整性樣本、邊緣密封膠條試樣組串式連接件接觸電阻測(cè)試樣件柔性襯底（PET/PI）彎曲測(cè)試樣片疊層結(jié)構(gòu)界面結(jié)合力試樣濕法刻蝕工藝處理樣片磁控濺射鍍膜試樣化學(xué)浴沉積樣本熱蒸發(fā)制備電極樣片卷對(duì)卷工藝生產(chǎn)半成品絲網(wǎng)印刷柵線精度試樣真空層壓封裝組件濕熱循環(huán)試驗(yàn)樣本冷熱沖擊測(cè)試樣片冰雹模擬沖擊靶點(diǎn)鹽霧腐蝕試驗(yàn)樣本紫外預(yù)處理老化樣片電勢(shì)分布測(cè)試專用標(biāo)定板

檢測(cè)方法

1.轉(zhuǎn)換效率測(cè)定：采用AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器配合IV曲線測(cè)試系統(tǒng)，在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件（STC：1000W/m,AM1.5G,25℃）下掃描獲得IV特性曲線2.量子效率分析：使用配備單色儀的光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量300-1200nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的外量子效率（EQE）3.熱斑效應(yīng)測(cè)試：通過(guò)局部遮光法結(jié)合紅外熱成像儀監(jiān)測(cè)異常溫升區(qū)域4.濕熱老化試驗(yàn)：在雙85環(huán)境箱中持續(xù)暴露1000小時(shí)后評(píng)估電性能衰減率5.機(jī)械彎曲測(cè)試：采用三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)對(duì)柔性組件進(jìn)行R=20mm曲率半徑的5000次循環(huán)測(cè)試6.PID效應(yīng)評(píng)估：施加-1000V偏壓72小時(shí)后測(cè)量最大功率衰減值7.透射電子顯微鏡（TEM）分析：觀測(cè)薄膜層間界面缺陷及晶格結(jié)構(gòu)8.激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）：無(wú)損檢測(cè)各功能層元素成分分布9.電化學(xué)阻抗譜（EIS）：分析載流子傳輸動(dòng)力學(xué)特性10.X射線衍射（XRD）：表征鈣鈦礦晶體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

IEC61646:2008薄膜地面光伏組件設(shè)計(jì)鑒定和定型GB/T26911-2011光伏用薄膜玻璃透光率測(cè)試方法ASTME973-16光伏電池量子效率測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程IECTS62804-1:2015光伏組件電勢(shì)誘導(dǎo)衰減測(cè)試方法JISC8935:2019柔性薄膜太陽(yáng)能組件機(jī)械耐久性試驗(yàn)方法UL1703-2017平板光伏組件安全認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)ISO9808:2020光伏組件環(huán)境老化試驗(yàn)通用要求GB/T3780.17-2017碳基薄膜材料電阻率測(cè)試規(guī)范IEC61215-2:2021地面用晶體硅光伏組件設(shè)計(jì)鑒定第2部分：薄膜組件特殊要求EN62788-1-6:2017光伏組件用材料測(cè)量程序第1-6部分：封裝材料透光率測(cè)定

檢測(cè)儀器

1.AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器：配備氙燈光源和AM1.5G濾光片系統(tǒng)，光譜匹配度達(dá)25%以內(nèi)2.四探針?lè)阶铚y(cè)試儀：用于透明導(dǎo)電膜薄層電阻測(cè)量，分辨率達(dá)0.01Ω/sq3.紫外加速老化箱：配備UVA-340燈管模擬太陽(yáng)紫外線輻射強(qiáng)度4.高精度數(shù)字源表：支持10nA~10A寬量程電流測(cè)量及電壓掃描功能5.傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）：分析封裝材料化學(xué)結(jié)構(gòu)變化6.原子力顯微鏡（AFM）：三維形貌掃描分辨率達(dá)0.1nm級(jí)7.氦質(zhì)譜檢漏儀：可檢出510^-12mbarL/s級(jí)微小泄漏8.動(dòng)態(tài)機(jī)械分析儀（DMA）：測(cè)量封裝材料儲(chǔ)能模量隨溫度變化曲線9.飛秒激光瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)：研究載流子復(fù)合動(dòng)力學(xué)過(guò)程10.X射線熒光光譜儀（XRF）：無(wú)損檢測(cè)各功能層元素組成比例

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。