中析研究所可依據(jù)相應(yīng)光刻膠檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析測(cè)試服務(wù)，亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì)方案，為客戶提供非標(biāo)檢測(cè)服務(wù)。

服務(wù)項(xiàng)目

　　光刻膠檢測(cè)項(xiàng)目一般包括：

　　· 粘度、溶解度、黏度、流動(dòng)性、比重、抗蝕性(刻蝕)、表面張力、耐化學(xué)性、耐熱性、耐光性、粘滯性黏度、粘附性等。

　　· 分辨率、曝光劑量、曝光時(shí)間、曝光能量、顯影劑類型、顯影時(shí)間、顯影溫度等。

　　· 涂膜厚度、均勻性、表面平整度、附著力、透明度、抗氧化性、抗?jié)裥缘取?/p>

試驗(yàn)范圍

　　· 酚醛類、苯胺類、環(huán)氧類、聚酰亞胺類、丙烯酸類、醇酸類、聚酯類、聚酰胺類光刻膠等。

　　· 光刻膠劑、光刻膠單體、光刻膠固化劑、光刻膠稀釋劑、光刻膠混合物、光刻膠前驅(qū)體、光刻膠溶液、光刻膠薄膜等。

　　· 制品：模擬半導(dǎo)體、發(fā)光二極管、微機(jī)電系統(tǒng)、太陽(yáng)能光伏、光電子器件/光子器件等

相關(guān)儀器

　　光刻膠檢測(cè)方法及相關(guān)儀器：

　　粘度測(cè)定方法：旋轉(zhuǎn)黏度計(jì)、落球黏度計(jì)、圓錐黏度計(jì)

　　分辨率測(cè)定方法：掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)

　　薄膜厚度測(cè)定方法：橢偏儀、白光干涉儀、原子力顯微鏡(AFM)

　　溶解度測(cè)定方法：溶解度試驗(yàn)、溶解度測(cè)定儀器

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的測(cè)試 光學(xué)反射法

　　T/ICMTIA 5.1-2020 集成電路用 ArF 干式光刻膠

檢測(cè)報(bào)告作用

　　1.用作銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力;

　　2.研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間;

　　3.司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門(mén)檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門(mén)提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù);

　　4.大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用;

　　5.投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低，準(zhǔn)確性較高;

　　6.工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

檢測(cè)流程

　　1、提供在線咨詢和電話溝通服務(wù)。

　　2、由專人負(fù)責(zé)發(fā)送對(duì)應(yīng)的實(shí)驗(yàn)室地址，郵遞檢測(cè)樣品到本所實(shí)驗(yàn)室或上門(mén)采樣。

　　3、為您對(duì)接工程師,由工程師評(píng)估后報(bào)價(jià)，便捷實(shí)惠。

　　4、簽署委托書(shū)，支付檢測(cè)所需費(fèi)用，深入開(kāi)展實(shí)驗(yàn)。

　　5、約定時(shí)間完成檢測(cè)，出具檢測(cè)報(bào)告。

　　6、郵寄檢測(cè)報(bào)告，專屬1V1售后服務(wù)。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。