GB/T 5121.27-2008 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

2020-02-14

GB/T 5121.27-2008,電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

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英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：Methods for chemical analysis of copper and copper alloys - Part 27:The inductively coupled plasma atomic emission spectromertric method

注：僅作為檢測(cè)參考。工程師會(huì)根據(jù)不同產(chǎn)品類(lèi)型的特點(diǎn)、不同行業(yè)和不同國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)以及客戶(hù)的需求，選取相應(yīng)的檢測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，詳情可咨詢(xún)?cè)诰€(xiàn)工程師。

項(xiàng)目咨詢(xún)

檢測(cè)周期

試驗(yàn)費(fèi)用

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所擁有完善的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)、先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備、強(qiáng)大的技術(shù)團(tuán)隊(duì)、標(biāo)準(zhǔn)的操作流程，可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)為各企業(yè)提供動(dòng)物模型試驗(yàn)、環(huán)境模擬試驗(yàn)、基本指標(biāo)參數(shù)測(cè)試、可靠性能試驗(yàn)等各種項(xiàng)目的分析測(cè)試服務(wù)，亦可根據(jù)各種檢測(cè)需求進(jìn)行非標(biāo)測(cè)試。檢測(cè)費(fèi)用：樣品初檢后結(jié)合客戶(hù)檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)

　　標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5121.27-2008

　　中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：銅及銅合金化學(xué)分析方法第27部分：電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

　　英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：Methods for chemical analysis of copper and copper alloys - Part 27:The inductively coupled plasma atomic emission spectromertric method

　　中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(CCS)：H13

　　實(shí)施日期：2008-12-01

　　發(fā)布單位：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

　　備注：2008-12-01實(shí)施

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