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項(xiàng)目咨詢
多層薄膜的核心檢測(cè)項(xiàng)目涵蓋七個(gè)維度:厚度測(cè)量(整體厚度與單層厚度)、層間附著力測(cè)試、表面粗糙度分析、光學(xué)透射/反射率測(cè)定、化學(xué)成分表征(元素分布與污染物分析)、機(jī)械性能評(píng)估(彈性模量與硬度)以及熱穩(wěn)定性驗(yàn)證(熱膨脹系數(shù)與玻璃化轉(zhuǎn)變溫度)。其中層間界面結(jié)合強(qiáng)度需通過劃痕法(Scratch Test)與剝離法(Peel Test)雙重驗(yàn)證,而厚度測(cè)量要求達(dá)到納米級(jí)分辨率。
本檢測(cè)適用于五大類工業(yè)場(chǎng)景:1) 光學(xué)級(jí)多層膜(AR增透膜/反射鏡鍍膜),要求透光率偏差≤0.5%;2) 半導(dǎo)體封裝膜(晶圓級(jí)鈍化層/介電層),需滿足JEDEC JESD22-A110F標(biāo)準(zhǔn);3) 柔性顯示基材(OLED阻隔層/觸控導(dǎo)電層),水氧透過率須<10-6 g/m2/day;4) 功能性涂層(防腐涂層/耐磨涂層),鹽霧測(cè)試需達(dá)ASTM B117-19標(biāo)準(zhǔn);5) 生物醫(yī)用膜材(藥物緩釋膜/人工器官膜),須通過ISO 10993生物相容性認(rèn)證。
采用四類精密檢測(cè)技術(shù):1) 光譜橢偏儀實(shí)現(xiàn)1nm精度的非破壞性厚度測(cè)量;2) X射線光電子能譜(XPS)進(jìn)行深度剖析的化學(xué)態(tài)分析;3) 原子力顯微鏡(AFM)獲取0.1nm分辨率的表面三維形貌;4) 納米壓痕儀測(cè)定薄膜的硬度和楊氏模量。針對(duì)界面特性研究,采用聚焦離子束(FIB)制備橫截面樣品后結(jié)合TEM觀察層間結(jié)構(gòu)。光學(xué)性能測(cè)試使用配備積分球的紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)完成190-2500nm全波段掃描。
核心設(shè)備包含:1) 臺(tái)階儀(Dektak XT)用于宏觀厚度測(cè)量;2) 白光干涉儀(Zygo NewView)實(shí)現(xiàn)微區(qū)厚度映射;3) TOF-SIMS二次離子質(zhì)譜儀分析元素深度分布;4) 劃痕測(cè)試儀(CSM Revetest)量化附著力臨界載荷;5) 動(dòng)態(tài)機(jī)械分析儀(DMA Q800)測(cè)定粘彈性參數(shù);6) 激光共聚焦拉曼光譜儀識(shí)別層間物質(zhì)遷移。所有設(shè)備均通過NIST可溯源校準(zhǔn),實(shí)驗(yàn)室環(huán)境控制在溫度23±0.5℃、濕度45±5% RH范圍內(nèi)
銷售報(bào)告:出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量,讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。
研發(fā)使用:擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備,可降低了研發(fā)成本,節(jié)約時(shí)間。
司法服務(wù):協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品,進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn),為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
大學(xué)論文:科研數(shù)據(jù)使用。
投標(biāo):檢測(cè)周期短,同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。
準(zhǔn)確性高;工業(yè)問題診斷:較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn),以達(dá)到盡快止損的目的。
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾:我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn),并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn),選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試,或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作,我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力,并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí),我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn),以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。
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