檢測項(xiàng)目

碳晶石檢測體系包含四大核心模塊：化學(xué)成分定量分析模塊聚焦碳元素純度（≥99.9%）、雜質(zhì)元素（Fe,Si,Al等）含量及非晶態(tài)碳占比；晶體結(jié)構(gòu)表征模塊測定晶格常數(shù)（a=0.246nm0.002）、晶面取向（(002)面占比＞85%）及缺陷密度（≤10?/cm）；熱學(xué)性能模塊測試熱導(dǎo)率（≥2000W/mK）、熱膨脹系數(shù)（CTE≤4.510??/K）及氧化起始溫度（≥600℃）；力學(xué)性能模塊評估維氏硬度（HV≥50GPa）、斷裂韌性（KIC≥4.5MPam/）及彈性模量（E≥1000GPa）。

檢測范圍

本檢測規(guī)程適用于三類碳晶石材料：單晶金剛石薄膜（厚度50nm-500μm）、多晶金剛石燒結(jié)體（粒徑1-50μm）及納米晶金剛石復(fù)合材料（摻雜比例≤15wt%）。具體涵蓋電子級半導(dǎo)體襯底材料（載流子濃度≤10?/cm）、機(jī)械加工用刀具涂層（膜基結(jié)合力≥50N）以及光學(xué)窗口材料（透過率＞70%@10.6μm）等工業(yè)應(yīng)用場景。

檢測方法

采用ASTME1587標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行X射線熒光光譜法（XRF）進(jìn)行元素定量分析；依據(jù)ISO20203:2015開展高分辨X射線衍射（HRXRD）測定晶體取向；通過激光閃射法（LFA427）測量熱擴(kuò)散系數(shù)并計(jì)算熱導(dǎo)率；使用納米壓痕儀（ISO14577-1）獲取硬度-模量曲線；參照J(rèn)ISR1674規(guī)范進(jìn)行拉曼光譜半高寬（FWHM＜3cm?）測試以評估結(jié)晶質(zhì)量；采用場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEMJSM-7900F）觀測表面形貌與斷口特征。

檢測儀器

配置ThermoScientificARLQUANT'X型能量色散X射線熒光光譜儀實(shí)現(xiàn)ppm級元素分析；RigakuSmartLab9kW高分辨衍射儀完成θ-2θ聯(lián)動掃描；NetzschLFA467HyperFlash激光導(dǎo)熱儀滿足-120℃至500℃寬溫域測試需求；AgilentG200納米力學(xué)測試系統(tǒng)配備Berkovich壓頭進(jìn)行連續(xù)剛度測量；RenishawinViaQontor共聚焦拉曼光譜儀配置532nm激光源；JEOLJSM-7900F場發(fā)射電鏡配合OxfordX-MaxN150能譜附件實(shí)現(xiàn)微區(qū)成分分析

檢測報(bào)告作用

檢測報(bào)告作用

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進(jìn)的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。