GB/T 14999.6-2010 鍛制高溫合金雙重晶粒組織和一次碳化物分布測(cè)定方法

2020-01-15

GB/T 14999.6-2010,鍛制高溫合金雙重晶粒組織和一次碳化物分布測(cè)定方法

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合金標(biāo)準(zhǔn) 項(xiàng)目咨詢 檢測(cè)周期 試驗(yàn)費(fèi)用

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所擁有完善的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)、先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備、強(qiáng)大的技術(shù)團(tuán)隊(duì)、標(biāo)準(zhǔn)的操作流程，可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)為各企業(yè)提供動(dòng)物模型試驗(yàn)、環(huán)境模擬試驗(yàn)、基本指標(biāo)參數(shù)測(cè)試、 可靠性能試驗(yàn)等各種項(xiàng)目的分析測(cè)試服務(wù)，亦可根據(jù)各種檢測(cè)需求進(jìn)行非標(biāo)測(cè)試。檢測(cè)費(fèi)用：樣品初檢后結(jié)合客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)

　　標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 14999.6-2010

　　中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：鍛制高溫合金雙重晶粒組織和一次碳化物分布測(cè)定方法

　　英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Test methods for characterizing duplex grain sizes and primary carbides distribution of superalloy forgings

　　中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS)：H57

　　實(shí)施日期：2011-09-01

　　主管部門：中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會(huì)————————歸口單位：全國鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

　　發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

　　備注：2011-09-01實(shí)施

鍛制高溫合金雙重晶粒組織和一次碳化物分布測(cè)定方法

　　鍛制高溫合金通常會(huì)出現(xiàn)雙重晶粒組織的問題，即在晶界和顆粒內(nèi)部都存在兩種或兩種以上的晶粒尺寸。雙重晶粒組織是一種顯著的微觀缺陷，可能會(huì)導(dǎo)致高溫合金材料的強(qiáng)度和耐久性降低。

　　為了解決這個(gè)問題，可以采用以下方法對(duì)雙重晶粒組織進(jìn)行分析和測(cè)試：

　　· 金相顯微鏡(OM)：這是目前最常見的金屬材料檢測(cè)方法之一，可以用于直接觀察和分析材料的顯微組織結(jié)構(gòu)。對(duì)于鍛制高溫合金，OM可用于檢測(cè)雙重晶粒組織的形成和分布情況。

　　· 掃描電鏡(SEM)：與OM不同，SEM可以提供更高的放大倍數(shù)和更高的分辨率。它能夠顯示出更詳細(xì)的表面形貌信息，特別是在分析碾磨區(qū)域等局部缺陷時(shí)有優(yōu)勢(shì)。對(duì)于鍛制高溫合金的雙重晶粒組織分析，SEM可用于檢查晶界是否存在任何磨損或裂紋，在不損傷材料結(jié)構(gòu)的情況下提供詳細(xì)的局部顯微結(jié)構(gòu)信息。

　　· X射線衍射分析(XRD)：該方法可以通過測(cè)量材料的晶格結(jié)構(gòu)來確定晶粒大小。對(duì)于雙重晶粒組織的檢測(cè)，可以用XRD技術(shù)來分析合金中兩種或多種不同尺寸的晶體。

　　一次性碳化物的分布，則可以采用以下方法檢測(cè)和分析：

　　· 電子探針顯微鏡(EPMA)：該技術(shù)可以利用特定能量的電子束在樣品表面生成激發(fā)態(tài)電子，在探頭引出的光電子規(guī)律的指導(dǎo)下分析材料中各種元素的分布規(guī)律，包括碳化物元素的分布情況。

　　· 原子力顯微鏡(AFM)：相比于EPMA，AFM可以提供更高的空間分辨率，并能夠定量地測(cè)量表面形貌和表面化學(xué)性質(zhì)。

　　以上這些方法是常見的鍛制高溫合金雙重晶粒組織和一次碳化物分布的測(cè)定方法，但具體應(yīng)該選擇哪種方法還需根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行選擇。

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